[发明专利]用于局部操纵B1场的方法有效
| 申请号： | 200810087240.4 | 申请日： | 2008-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN101271150A | 公开（公告）日： | 2008-09-24 |
| 发明（设计）人： | 赫尔穆特·格雷姆;斯蒂芬·沃尔夫 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01R33/32 | 分类号： | G01R33/32;A61B5/055 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 郝俊梅;谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于在设置在磁共振系统(1)的检查空间(U)中的检查对象(P)的第一区域(A1)内局部操纵B1场的方法，其中，在调整测量范围内对检查空间的至少一个特定子空间(T)整体确定B1测量值(M)，该值表示在调整测量期间在所涉及的子空间(T)内存在的B1场，以及基于所确定的B1测量值(M)为随后的磁共振测量预先给定高频信号的额定参数(HFP)。其中，借助设置在远离该第一区域的该子空间的第二区域(A2)之中或之上的辅助线圈元件(10，20，20’)，至少在该调整测量期间在该第二区域内与在第一区域中的有意操纵相反地影响该B1场。此外本发明还涉及用于实施这种控制方法的磁共振系统和辅助线圈元件。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 局部 操纵 sub 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于在设置在磁共振系统(1)的检查空间(U)中的检查对象(P)的第一区域(A1)内局部操纵B1场的方法，其中，在调整测量的范围内对检查空间(U)的至少一个特定子空间(T)整体确定B1测量值(M)，该B1测量值表示在调整测量期间在所涉及的子空间(T)内存在的B1场，以及基于所确定的B1测量值(M)为随后的磁共振测量预先给定高频信号的额定参数(HFP)，其特征在于，借助设置在远离该第一区域(A1)的该子空间(T)的第二区域(A2)中的辅助线圈元件(10，20，20’)，至少在该调整测量期间在该第二区域(A2)内与在第一区域(A1)中有意的操纵相反地影响该B1 场。
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