[发明专利]激光能测量装置与激光加工装置有效

专利信息
申请号: 200810084084.6 申请日: 2008-03-26
公开(公告)号: CN101274391A 公开(公告)日: 2008-10-01
发明(设计)人: 渡边文雄;武川克郎 申请(专利权)人: 日立比亚机械股份有限公司
主分类号: B23K26/00 分类号: B23K26/00;B23K26/06;B23K26/067;G01J1/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 雒运朴;李伟
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的课题在于拓宽激光光能的测量范围。根据本发明,激光能测量装置(32)具备:设置在激光(2b)的光路中并使上述激光(2b)的光能衰减的滤光器(21);对通过上述滤光器(21)的激光(2b)的光能进行测量的运算部(19);以及配设在滤光器(21)之前并将激光(2b)聚光在运算部(19)上的聚光镜(17)。滤光器(21)在与激光(2b)的中心一致的位置上具备阻止激光(2b)中心部分通过的遮挡部(21a)。激光(2b)被遮挡部(21a)切除掉能量较大的中心部分,并通过运算部(19)来测量能量不太大的部分。由此可以拓宽激光的光能测量范围。
搜索关键词: 激光 测量 装置 加工
【主权项】:
1.一种激光能测量装置,具备:衰减部件,其设置于激光的光路中并使上述激光的光能衰减;测量机构,其对通过上述衰减部件的上述激光的光能进行测量,该激光能测量装置的特征在于,具备聚光镜,其配设在上述衰减部件前后的一方并将上述激光聚光在上述测量机构上,上述衰减部件在与上述激光的中心一致的位置上具备阻止上述激光的中心部分通过的遮挡部。
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