[发明专利]一种相位测量的校准方法、装置及测距设备有效
| 申请号： | 200810067250.1 | 申请日： | 2008-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN101581783A | 公开（公告）日： | 2009-11-18 |
| 发明（设计）人： | 杜鑫;伍昕;侴智 | 申请（专利权）人： | 张俊忠 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497;G01S17/32 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 | 代理人： | 张全文 |
| 地址： | 518000广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于光电测距领域，提供了一种相位测量的校准方法、装置及测距设备，所述方法包括：第一光波发射装置发射第一光波至被测目标，所述第一光波被被测目标反射折回后被一接收装置接收，其中，所述光波作为外光路信号由第一高频振荡信号调制生成；第二光波发射装置发射第二光波至所述接收装置，其中，所述光波作为基底参考的内光路信号由第二高频振荡信号调制生成；所述接收装置将先后接收到的两路所述光波进行相位比较，输出消除基底的信号。本发明实现了相位补偿和校准的目的，避免了环境变化在电路中引入不确定的相位噪音，提高了激光测距的测量精度，减少了环境因素对测距误差的影响，减低了系统的成本，加强了激光测距在各行业的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 相位 测量 校准 方法 装置 测距 设备 | ||
【主权项】：
1、一种相位测量的校准方法，其特征在于，所述方法包括步骤：第一光波发射装置发射第一光波至被测目标，所述第一光波被被测目标反射折回后被一接收装置接收，其中，所述光波作为外光路信号由第一高频振荡信号调制生成；第二光波发射装置发射第二光波至所述接收装置，其中，所述光波作为基底参考的内光路信号由第二高频振荡信号调制生成；所述接收装置将先后接收到的两路所述光波进行相位比较，输出消除基底的信号。
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