[发明专利]一种相位测量的校准方法、装置及测距设备有效

专利信息
申请号: 200810067250.1 申请日: 2008-05-16
公开(公告)号: CN101581783A 公开(公告)日: 2009-11-18
发明(设计)人: 杜鑫;伍昕;侴智 申请(专利权)人: 张俊忠
主分类号: G01S7/497 分类号: G01S7/497;G01S17/32
代理公司: 深圳中一专利商标事务所 代理人: 张全文
地址: 518000广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 相位 测量 校准 方法 装置 测距 设备
【权利要求书】:

1.一种相位测量的校准方法,其特征在于,所述方法包括步骤:

第一光波发射装置发射第一光波至被测目标,所述第一光波被被测目标反 射折回后被一接收装置接收,其中,所述第一光波作为外光路信号由第一高频 振荡信号调制生成;

第二光波发射装置发射第二光波至所述接收装置,其中,所述第二光波作 为基底参考的内光路信号由第二高频振荡信号调制生成;

控制电路控制所述第一光波发射装置和所述第二光波发射装置的发射顺 序,使所述内光路信号和外光路信号的切换时间为毫秒级;

所述接收装置将先后接收到的两路所述第一光波和第二光波分别与一混频 信号进行混频,并将混频后的两路所述第一光波和第二光波进行相位比较,输 出消除基底的相位差信号;

所述第一高频振荡信号和第二高频振荡信号为频率相同,且相位相同或具 有固定相位差的高频振荡信号;

所述两路第一光波和第二光波均为激光。

2.一种相位测量的校准装置,其特征在于,所述装置包括:

第一光波发射装置,用于根据接收到的第一高频振荡信号调制生成第一光 波,并将所述第一光波作为外光路信号发射至被测目标;

第二光波发射装置,用于根据接收到的第二高频振荡信号调制生成第二光 波,并将所述第二光波作为基底参考的内光路信号发射;

控制电路,用于控制所述第一光波发射装置和所述第二光波发射装置的发 射顺序,使所述内外光路信号的切换时间为毫秒级;

光电转换装置,用于分别接收所述第二光波和由被测目标反射折回的所述 第一光波进行光电转换并分别输出;以及

混频器,用于将所述光电转换装置输出的两路信号分别与混频信号进行混 频并分别输出至鉴相器;

鉴相器,用于分别接收两路混频后的信号,并将两路混频后的信号进行相 位比较输出消除基底的相位差信号;

与所述光电转换装置输出的两路信号分别进行混频的混频信号为频率相 同,且相位相同或具有固定相位差的高频振荡信号;

所述光电转换装置和所述混频器包含于一接收装置内,所述接收装置为光 电二极管、光电三极管或光电倍增管。

3.如权利要求2所述的一种相位测量的校准装置,其特征在于,所述校准 装置进一步包括:

振荡器,用于产生并输出所述高频振荡信号和所述混频信号;和/或

放大装置,用于接收所述光电转换装置的输出信号进行放大,并输出。

4.一种包含如权利要求2或3所述的校准装置的测距设备。

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