[发明专利]一种低密度校验码的编解码装置和方法有效

专利信息
申请号: 200810057536.1 申请日: 2008-02-02
公开(公告)号: CN101227193A 公开(公告)日: 2008-07-23
发明(设计)人: 纪雯;陈益强 申请(专利权)人: 中国科学院计算技术研究所
主分类号: H03M13/11 分类号: H03M13/11;H04L1/00
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人: 王勇
地址: 100080北京*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种低密度校验码编解码装置和方法,用以实现数据传输。该装置包含LDPC编码器;穿孔/重复图样生成装置,用于根据穿孔/重复序列表生成穿孔或重复图样,穿孔/重复序列表标识了穿孔或重复LDPC编码器编码后码字的变量节点的顺序;穿孔/重复装置,其用于根据穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔或重复图样对LDPC编码器编码后的码字进行穿孔或重复;改变码率后码字的解码器,用于对改变码率后的码字进行译码。本发明能够有效地提高编解码性能,且适用于任何方法构造的LDPC码,包括规则码和非规则码,能够产生任意码率的编译码。
搜索关键词: 一种 密度 校验码 解码 装置 方法
【主权项】:
1.一种低密度校验码的编码装置,其特征在于,所述装置包括:LDPC编码器,用于对信源传输的数据进行低密度校验码编码;穿孔/重复图样生成装置,用于根据穿孔/重复序列表生成穿孔或重复图样,其中所述穿孔/重复序列表标识了穿孔或重复所述LDPC编码器编码后码字的变量节点的顺序;穿孔/重复装置,其用于根据穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔或重复图样对所述LDPC编码器编码后的码字进行穿孔或重复。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院计算技术研究所,未经中国科学院计算技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200810057536.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top