[发明专利]一种低密度校验码的编解码装置和方法有效
| 申请号: | 200810057536.1 | 申请日: | 2008-02-02 |
| 公开(公告)号: | CN101227193A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
| 发明(设计)人: | 纪雯;陈益强 | 申请(专利权)人: | 中国科学院计算技术研究所 |
| 主分类号: | H03M13/11 | 分类号: | H03M13/11;H04L1/00 |
| 代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王勇 |
| 地址: | 100080北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 密度 校验码 解码 装置 方法 | ||
1.一种低密度校验码的编码装置,其特征在于,所述装置包括:
LDPC编码器,用于对信源传输的数据进行低密度校验码编码;
穿孔/重复图样生成装置,用于根据穿孔/重复序列表生成穿孔或重复图样,其中所述穿孔/重复序列表标识了穿孔或重复所述LDPC编码器编码后码字的变量节点的顺序;
穿孔/重复装置,其用于根据穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔或重复图样对所述LDPC编码器编码后的码字进行穿孔或重复。
2.根据权利要求1所述的编码装置,其特征在于,包括穿孔/重复序列表计算装置,其用于根据变量节点对码字恢复的影响程度计算所述穿孔/重复序列表。
3.根据权利要求2所述的编码装置,其特征在于,所述变量节点对码字恢复的影响程度是与所述变量节点连接的校验节点度数相联系的。
4.根据权利要求2所述的编码装置,其特征在于,所述穿孔/重复序列表计算装置采用离线方式计算所述穿孔/重复序列表。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的编码装置,其特征在于,包括:
穿孔/重复图样生成装置,用于根据最优度分布和所述穿孔/重复序列表生成穿孔/重复图样;
其中,所述最优度分布表示了每个码字在不同码率下变量节点的最优的度数分布。
6.根据权利要求5所述的编码装置,其特征在于,包括最优度分布计算装置,用于基于密度进化算法计算所述最优度分布。
7.根据权利要求6所述的编码装置,其特征在于,所述最优度分布计算装置采用离线方式计算所述最优度分布。
8.一种对应于权利要求1所述的编码装置的低密度校验码解码装置,其特征在于,所述解码装置包括LDPC解码器,其用于根据所述穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔图样进行解码。
9.根据权利要求8所述的解码装置,其特征在于,所述LDPC解码器在减小码率时,LDPC解码器首先计算后验概率,然后根据所述穿孔/重复图样生成装置生成的穿孔/重复图样进行解码。
10.根据权利要求9所述的解码装置,其特征在于,所述LDPC解码器通过把重复的码字根据功率比进行码字融合来计算所述后验概率。
11.一种数据传输系统,其特征在于,包括根据权利要求1所述的编码装置和根据权利要求8所述的解码装置。
12.一种低密度校验码的编码方法,包含如下步骤:
首先,对信源传输的数据进行低密度校验码编码;
然后,根据穿孔/重复序列表生成穿孔/重复图样,其中所述穿孔/重复序列表标识了穿孔或重复编码后码字的变量节点的顺序;
根据所述穿孔/重复图样对所述编码后码字进行穿孔或重复。
13.根据权利要求12所述的编码方法,其特征在于,包括根据变量节点对码字恢复的影响程度计算所述穿孔/重复序列表。
14.根据权利要求13所述的编码方法,其特征在于,所述变量节点对码字恢复的影响程度是与所述变量节点连接的校验节点度数相联系的。
15.根据权利要求13所述的编码方法,其特征在于,采用离线方式计算所述穿孔/重复序列表。
16.根据权利要求15所述的编码方法,其特征在于,计算所述穿孔/重复序列表包括如下步骤:
1)初始化所述穿孔/重复序列表为空集P;
2)从变量节点集合V随机选择一个变量节点i,将所述变量节点i并入P中,从校验节点集合C中去除与I相连的校验节点rix,从V中删除与所述校验节点rix相连的变量节点;
3)重复步骤2),直到V为空集,然后V=V/P;
4)如果V是空集,则得到穿孔/重复序列表P,如果不是空集,则返回到步骤2)。
17.根据权利要求12至16中任一项所述的编码方法,其特征在于,根据最优度分布和所述穿孔/重复序列表生成穿孔/重复图样;
其中,所述最优度分布表示每个码字在不同码率下变量节点的最优的度数分布。
18.根据权利要求17所述的编码方法,其特征在于,基于密度进化算法计算所述最优度分布。
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