[发明专利]回转轴同轴度的校准方法及其校准仪无效

专利信息
申请号: 200810048262.X 申请日: 2008-07-02
公开(公告)号: CN101298982A 公开(公告)日: 2008-11-05
发明(设计)人: 孙世基;项龙骧;张国庆 申请(专利权)人: 瑞安市瑞光光电仪器有限公司
主分类号: G01B11/27 分类号: G01B11/27
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 325200浙江省瑞安市沿江西路1*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 一种回转轴同轴度的校准方法是:首先将激光发射器及激光发射器支座和激光接收器及激光接收器支座分别固定在两回转轴上;接着由激光发射器发射激光射向激光接收器的滤光片,再经过半反半透镜形成互相垂直的两束激光而射向互相垂直的两片二维位置敏感传感器的光敏面上;测量时,将两待测轴同步同向旋转,并按要求获取不同转角时光斑的位置坐标信号且输入便携式数据处理器,生成测校报告进行校准。由此制得的回转轴同轴度校准仪,其激光发射器支座上装有激光发射器,激光接收器支座上装有激光接收器,激光接收器又与便携式数据分析器电连接。本发明具有自动化程度高、校准精度高的特点,提升了回转轴同轴度校准工作效率。
搜索关键词: 回转 同轴 校准 方法 及其
【主权项】:
1、一种回转轴同轴度的校准方法,其特征在于:首先将激光发射器支座和激光接收器支座分别固定在两待测回转轴上,然后将激光发射器和激光接收器分别装入各自支座上,并使它们的高度大抵持平,即使激光发射器发射的激光落在激光接收器的滤光片中心附近;接着,由激光发射器发射的激光束射向激光接收器中的滤光片,经过该滤光片的作用,仅能通过波长为650nm的激光,再经过半反半透镜形成互相垂直的两束激光而射向互相垂直的两片二维位置敏感传感器的光敏面上;测量时,将两待测轴同步同向旋转,转动的角度由激光接收器中的倾角传感器监测,并按要求获取不同转角时光斑的位置坐标信号,将这些信号输入便携式数据处理器,根据已装入其中的数学模型求得两待测轴的不同轴度及校准数据,并生成测校报告,再根据该测校报告对“不对中”的回转轴进行校准,使两回转轴共线、“对中”。
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