[发明专利]回转轴同轴度的校准方法及其校准仪

权利要求书

1.一种回转轴同轴度的校准方法，其特征在于：首先将激光发射器支座和激光接收器支座分别固定在两待测回转轴上，然后将激光发射器和激光接收器分别装入各自支座上，并使它们的高度大抵持平，即使激光发射器发射的激光落在激光接收器的滤光片中心附近；接着，由激光发射器发射的激光束射向激光接收器中的滤光片，经过该滤光片的作用，仅能通过波长为650nm的激光，再经过半反半透镜形成互相垂直的两束激光而射向互相垂直的两片二维位置敏感传感器的光敏面上；测量时，将两待测轴同步同向旋转，转动的角度由激光接收器中的倾角传感器监测，并按要求获取不同转角时光斑的位置坐标信号，将这些信号输入便携式数据处理器，根据已装入其中的数学模型求得两待测轴的不同轴度及校准数据，并生成测校报告，再根据该测校报告对“不对中”的回转轴进行校准，使两回转轴共线、“对中”。

2.如权利要求1所述的回转轴同轴度的校准方法，其特征在于：对能提供测试仪器一周回转空间的情况，将两待测轴在0°、90°、180°、270°的位置采集激光光斑位置坐标信号。

3.如权利要求1所述的回转轴同轴度的校准方法，其特征在于：对不能提供测试仪器回转一周空间的情况，选取四个任意旋转角度的位置采集激光光斑位置坐标信号。

4.一种如权利要求1所述的回转轴同轴度的校准方法所使用的回转轴同轴度校准仪，包括激光发射器支座(22)、激光接收器支座(23)，其特征在于：所述的激光发射器支座(22)上装有激光发射器(24)，激光接收器支座(23)上装有激光接收器(25)，激光接收器(25)又与便携式数据处理器(26)电连接。

5.如权利要求4所述的回转轴同轴度校准仪，其特征在于：所述的激光接收器支座(22)、激光发射器支座(23)的外形均呈“倒V”状结构，激光接收器支座(22)、激光发射器支座(23)上均装有链条(27)。

6.如权利要求4或5所述的回转轴同轴度校准仪，其特征在于：所述的激光发射器(24)包括发射器外壳(6)，发射器外壳(6)内装有互联的发射器内支架(4)和激光器调整架(7)，发射器内支架(4)上装有电源装置(3)，激光器调整架(7)上装有激光准直器(10)。

7.如权利要求4或5所述的回转轴同轴度校准仪，其特征在于：所述的激光接收器(25)包括接收器外壳(16)，接收器外壳(16)内装有互联的接收器内支架(13)和电源装置(15)，接收器外壳(16)外装有滤光片(17)，在接收器内支架(13)的一面上装有与滤光片位置对应的半反半透镜(14)，在接收器内支架(13)的另一面上、与半反半透镜的透镜对应处装有正面二维位置敏感传感器(19)、倾角传感器(20)，在接收器内支架(13)的一侧边上、与半反半透镜的反射镜对应处装有侧面二维位置敏感传感器(18)。

8.如权利要求6所述的回转轴同轴度校准仪，其特征在于：所述的激光器调整架(7)为激光器四维微调架，在该激光器四维微调架上装有微调旋钮(2)，该微调旋钮(2)与激光准直器(10)相联。