[发明专利]一种水分仪的校准方法有效
| 申请号: | 200810030397.3 | 申请日: | 2008-08-26 |
| 公开(公告)号: | CN101344471A | 公开(公告)日: | 2009-01-14 |
| 发明(设计)人: | 田志雄;吴桂周;冯志斌 | 申请(专利权)人: | 广东中烟工业有限责任公司 |
| 主分类号: | G01N5/04 | 分类号: | G01N5/04 |
| 代理公司: | 广州粤高专利代理有限公司 | 代理人: | 禹小明 |
| 地址: | 510610广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明涉及测量设备的校准方法领域,所要解决的技术问题是克服现有水分校准方法不适用香烟分组加工工艺的缺点,提供一种能够在工作过程中快速准确对水分仪进行校准的方法。本发明改良后的校准方法增加了β变量,从而将各自独立的校准曲线联系起来,在日常动态校准时只要调节β变量即可完成对所有曲线的修改,大大降低了抽样的样品量,提高校准效率和精度,实现了线水分仪在分组加工工艺中的实时校准。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 水分 校准 方法 | ||
【主权项】:
1.一种水分仪的校准方法,包括以下步骤:①利用测量工艺中的工艺点制作多组不同性质的校准样品;②用水分仪分别静态测量上述多组校准样品,并记录显示值,同时用烘箱法检测相对应的样品含水率,通过最小二乘法计算校准曲线Yi=κX+bi的参数κ和bi,其中Yi为每个分组的校准值,X为水分仪测量值,斜率κ为工艺点的加工特性,bi为工艺点的分组每天测量的个性,i为分组序号;③进行多天测试性测量,并在每个分组中抽样,采用烘箱法测量的bi误差,并取误差的平均值修正bi;④记录每天的每个分组的bi,形成历史数据库;其特征在于还包括以下步骤:⑤进行一致性维护,选择历史数据库中一天的bi为bij,计算同一分组不同时间bi与bij的误差并取误差平均值β,将同一分组bi全部统一为bij,校准曲线变更为Yi=κX+bij+β,其中为bij工艺点的分组的个性,β为外界条件对水分仪的综合影响,j为一致性维护的次数;⑥运行水分仪进行实际测量;⑦不分组进行抽样,采用烘箱法测量的β误差,并取误差的平均值修正β。
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