[发明专利]一种水分仪的校准方法

权利要求书

1.一种水分仪的校准方法，包括以下步骤：

①利用测量工艺中的工艺点制作多组不同性质的校准样品；

②用水分仪分别静态测量上述多组校准样品，并记录显示值，同时用烘箱法检测相对应的样品含水率，通过最小二乘法计算校准曲线Y_i＝κX+b_i的参数κ和b_i，其中Y_i为每个分组的校准值，X为水分仪测量值，斜率κ为工艺点的加工特性，b_i为工艺点的分组每天测量的个性，i为分组序号；

③进行多天测试性测量，并在每个分组中抽样，采用烘箱法测量的b_i误差，并取误差的平均值修正b_i；

④记录每天的每个分组的b_i，形成历史数据库；

其特征在于还包括以下步骤：

⑤进行一致性维护，选择历史数据库中一天的b_i为b_ij，计算同一分组不同时间b_i与b_ij的误差并取误差平均值β，将同一分组b_i全部统一为b_ij，校准曲线变更为Y_i＝κX+b_ij+β，其中为b_ij为工艺点的分组的个性，β为外界条件对水分仪的综合影响，j为一致性维护的次数；

⑥运行水分仪进行实际测量；

⑦不分组进行抽样，采用烘箱法测量的β误差，并取误差的平均值修正β。

2.根据权利要求1所述的校准方法，其特征是在校准之后还包括以下步骤：

⑧在每天运行水分仪进行测量的过程中，实时不分组进行抽样，采用烘箱法测量的β误差，并取误差的平均值修正β。

3.根据权利要求2所述的校准方法，其特征是还包括以下步骤：

⑨在每天测量之后，在每个分组中抽样，采用烘箱法测量的b_ij误差，并取误差的平均值修正b_ij，在历史数据库中记录b_ij；

⑩在水分仪运行相隔5至30天进行一次一致性维护，选择历史数据库中一天b_ij统一同一分组的b_ij。

4.根据权利要求3所述的校准方法，其特征是在步骤③、⑨中在每个分组中抽样4至20个数据。

5.根据权利要求3所述的校准方法，其特征是在步骤⑦、⑧中不分组进行抽样4至20个数据。