[发明专利]包含栅极电压提升的静电放电防护电路无效

专利信息
申请号: 200810004261.5 申请日: 2008-01-24
公开(公告)号: CN101494377A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 郭荣彦 申请(专利权)人: 普诚科技股份有限公司
主分类号: H02H9/00 分类号: H02H9/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种包含栅极电压提升的静电放电防护电路,其是用于一大尺寸开放式漏极电路的静电放电防护电路,包含:电压源,用以提供电压;第一PMOS,耦接至电压源;第一NMOS,耦接至PMOS;寄生二极管,耦接至PMOS;第二NMOS,耦接至PMOS的漏极;第一寄生电容,耦接至第二NMOS;第二寄生电容,耦接至第一寄生电容与第二NMOS;栅极电压提升电路,耦接至第二NMOS的栅极与源极;其利用一栅极电压提升电路用以提升第二N型金属氧化物半导体的栅极电压。本发明所述的包含栅极电压提升的静电放电防护电路,可解决NMOS栅极电压过低以及不正常导通而降低静电放电防护表现等问题。
搜索关键词: 包含 栅极 电压 提升 静电 放电 防护 电路
【主权项】:
1.一种包含栅极电压提升的静电放电防护电路,其特征在于,用于一大尺寸开放式漏极电路的静电放电防护电路,该包含栅极电压提升的静电放电防护电路包含:一电压源,用以提供一电压;一第一P型金属氧化物半导体,耦接至该电压源;一第一N型金属氧化物半导体,耦接至该P型金属氧化物半导体;一寄生二极管,耦接至该P型金属氧化物半导体;一第二N型金属氧化物半导体,耦接至该P型金属氧化物半导体的漏极;一第一寄生电容,耦接至该第二N型金属氧化物半导体;一第二寄生电容,耦接至该第一寄生电容与该第二N型金属氧化物半导体;一栅极电压提升电路,耦接至该第二N型金属氧化物半导体的栅极与源极;其中该栅极电压提升电路用以提升该第二N型金属氧化物半导体的栅极电压。
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