[发明专利]用于探测吸收性物品内出现多次污损的方法及设备有效
| 申请号： | 200780051395.6 | 申请日： | 2007-11-14 |
| 公开（公告）号： | CN101668499A | 公开（公告）日： | 2010-03-10 |
| 发明（设计）人： | T·M·阿莱斯三世;C·P·罗特若夫 | 申请（专利权）人： | 金伯利-克拉克环球有限公司 |
| 主分类号： | A61F13/42 | 分类号： | A61F13/42 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王 勇;姜 华 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种探测吸收性物品中出现污损的方法。测量该物品的电性质并将其数字化。为了探测到污损，通过微处理器运用这些数字值来确定以下至少其中之一：(a)该电性质与一阈值相比较的斜率；(b)在一段时间内该电性质与一阈值的比较；和/或(c)该电性质与一确定阈值的比较。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测 吸收性 物品 出现 多次 污损 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种探测吸收性物品中出现污损的方法，所述方法包括：当穿戴者穿着该物品时监测该物品的电性质，其中该电性质响应于污损而变化；确定该电性质的参数随时间的斜率；将该斜率与一阈值相比较以确定污损的出现。
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