[发明专利]用于探测吸收性物品内出现多次污损的方法及设备有效
| 申请号: | 200780051395.6 | 申请日: | 2007-11-14 | 
| 公开(公告)号: | CN101668499A | 公开(公告)日: | 2010-03-10 | 
| 发明(设计)人: | T·M·阿莱斯三世;C·P·罗特若夫 | 申请(专利权)人: | 金伯利-克拉克环球有限公司 | 
| 主分类号: | A61F13/42 | 分类号: | A61F13/42 | 
| 代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王 勇;姜 华 | 
| 地址: | 美国威*** | 国省代码: | 美国;US | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 探测 吸收性 物品 出现 多次 污损 方法 设备 | ||
1.一种探测吸收性物品中出现污损的方法,该吸收性物品包括一对 间隔分开的基本上平行的导体,所述方法包括:
当穿戴者穿着该物品时监测该两个导体间的电阻,其中该电阻响应于 污损而变化;
确定该电阻随时间的斜率;
将该斜率与一阈值相比较以确定污损的出现。
2.如权利要求1所述的方法,进一步包括当该斜率与该阈值的比较 指示污损出现时,将污损出现的信息发送给看护者和/或穿戴者。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述监测包括产生指示物品的电 阻的模拟输出信号,其中所述探测方法还包括
按照时间间隔将对应于物品的电阻的模拟输出信号转换为数字值存 储在存储器中;
用该存储的数字值计算该物品的电阻的时间斜率;以及
将该斜率与存储在存储器内的阈值相比较。
4.如权利要求1所述的方法,进一步包括在预置时间段内比较该电 阻与阈值以确定污损的出现。
5.如权利要求1所述的方法,进一步包括确定一阈值并将该电阻与 该确定的阈值进行比较以判断污损的出现。
6.一种探测吸收性物品中出现污损的方法,所述方法包括:
当穿戴者穿着该物品时监测该物品的电性质,其中该电性质响应于污 损而变化;以及
基于该所监测的电性质的变化率、该所监测的电性质的百分比变化、 该所监测的电性质的移动平均以及该所监测的电性质与阈值的比较来确 定污损的出现。
7.如权利要求6所述的方法,其中所述监测包括以采样速率对该电 性质进行采样,其中该阈值为该采样速率的函数。
8.一种探测吸收性物品中出现第一污损和第二污损的方法,所述方 法包括:当穿戴者穿着该物品时监测该物品的电阻,其中该电阻响应于污 损而变化;
确定第一阈值;
将该电阻与该第一阈值进行比较以判断第一污损的出现;
确定该第一污损出现后,在等待期后,在一段设定时间内采样该电阻, 以确定第二阈值;以及
将该电阻比较于该第二阈值以确定出现第二污损。
9.如权利要求8所述的方法,其中该第一阈值和该第二阈值以该电 阻的移动平均函数来确定,或以预置时间段内该电阻的值的函数来确定。
10.一种用于探测吸收性物品中出现污损的传感器装置,该传感器装 置包括:
一对间隔分开的基本上平行地设置在该吸收性物品中的导体;
当穿戴者穿着该物品时用于测量该两个导体之间的电阻的测量元件, 该测量元件产生指示电阻的模拟输出信号;
用于转换该测量元件的模拟信号为数字值的模数转换器;以及
用于接收来自该转换器的数字值的微处理器,所述微处理器确定以下 中的一个或多个:
(a)该电阻或该电阻的函数值的斜率,该斜率与一阈值相比较;
(b)在一段时间内的该电阻与一阈值的比较;和
(c)该电阻与一阈值的比较;
所述微处理器根据(a),(b)和/或(c)的确定来判断该物品中是否 出现污损。
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