[发明专利]IC芯片封装及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200780045677.5 申请日: 2007-11-30
公开(公告)号: CN101563774A 公开(公告)日: 2009-10-21
发明(设计)人: 久户濑智;中川智克;加藤达也 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L23/29 分类号: H01L23/29;H01L23/31;H01L23/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 闫小龙;王忠忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在IC芯片封装(1)中,膜基材(2)和IC芯片(3)通过中介基板(4)实现互连,该三者的键合部分被密封树脂密封。上述密封树脂的提供方式为:利用填充喷嘴(20)在中介基板(4)的周围填充密封树脂(15),或者,在IC芯片(3)的周围,即,从器件孔(8)填充密封树脂(15)。另外,上述密封树脂的线膨胀系数小于等于80ppm/℃,其粘度大于等于0.05Pa·s且小于等于0.25Pa·s,所含有的填料的粒径小于等于1μm。
搜索关键词: ic 芯片 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种IC芯片封装,包括IC芯片和用于安装该IC芯片的封装基材,该IC芯片具有输入输出端子组,该封装基材具有连接端子组,该IC芯片封装的特征在于,上述IC芯片和上述封装基材通过中介基板实现互连,其中,上述中介基板包括:封装基材连接端子组,用于连接上述封装基材所具备的连接端子组;IC芯片连接端子组,用于连接上述输入输出端子组;以及配线,用于连接上述封装基材连接端子组和上述IC芯片连接端子组,上述IC芯片被配置在器件孔内,该器件孔形成在上述封装基材中,上述封装基材、上述IC芯片和上述中介基板的键合部分被密封树脂密封,上述密封树脂的线膨胀系数小于等于80ppm/℃。
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