[发明专利]电子部件的高频特性误差修正方法有效
| 申请号： | 200780044053.1 | 申请日： | 2007-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN101542299A | 公开（公告）日： | 2009-09-23 |
| 发明（设计）人： | 藤井直树;神谷岳;森太一 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28;G01R35/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李香兰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 电子部件的高频特性误差修正方法，能够在成为修正对象的测量系统保持和实测时相同的状态下，对于2端子阻抗部件进行校正作业。用基准测量系统和实测测量系统测量高频特性不同的至少3个修正数据取得用试料，决定使用传输线路的误差修正系数将用实测测量系统测量的测量值和用基准测量系统测量的测量值联系起来的公式。用基准测量系统测量任意的电子部件，使用决定的公式，计算出如果用基准测量系统测量该电子部件将会获得的该电子部件的高频特性的推定值。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 高频 特性 误差 修正 方法 | ||
【主权项】：
1、一种电子部件的高频特性误差修正方法，该方法根据用实测测量系统对2端子阻抗部件的电子部件进行测量的结果，计算出如果用基准测量系统测量该电子部件将会获得的该电子部件的高频特性的推定值，该方法具备：准备用所述基准测量系统标称的、高频特性不同的至少3个第1修正数据取得用试料的第1步骤；用所述实测测量系统测量至少3个所述第1修正数据取得用试料或被认为具有与所述第1修正数据取得用试料同等的高频特性的至少3个第2修正数据取得用试料的第2步骤；根据在所述第1步骤中准备的所述第1修正数据取得用试料的用所述基准测量系统标称的数据和在所述第2步骤中用所述实测测量系统测量的所述第1修正数据取得用试料或所述第2修正数据取得用试料的测量数据，决定使用传输线路的误差修正系数将用所述实测测量系统测量的测量值与用所述基准测量系统测量的测量值联系起来的公式的第3步骤；用所述实测测量系统，测量任意的电子部件的第4步骤；和根据在所述第4步骤中获得的测量结果，使用在所述第3步骤中决定的所述公式，计算出如果用所述基准测量系统测量该电子部件将会获得的该电子部件的高频特性的推定值的第5步骤。
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