[发明专利]静电放电保护器件以及用于保护半导体器件不受静电放电事件损害的方法有效

专利信息
申请号: 200780041846.8 申请日: 2007-09-24
公开(公告)号: CN101584045A 公开(公告)日: 2009-11-18
发明(设计)人: A·萨曼;S·毕比 申请(专利权)人: 先进微装置公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 代理人: 程 伟;王锦阳
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供用于保护半导体器件不受静电放电事件损害的器件及方法。一种静电放电保护器件(100)包括硅衬底(104)、设置于该硅衬底内的P+型阳极区(116)、以及与该P+型阳极区串联而设置于该硅衬底内的第一N阱器件区(120)。第一P阱器件区(122)与该第一N阱器件区串联而设置于该硅衬底内,且N+型阴极(118)区设置于该硅衬底内。栅电极(114)至少覆于该硅衬底的该第一N阱器件区及该第一P阱器件区上。
搜索关键词: 静电 放电 保护 器件 以及 用于 半导体器件 不受 事件 损害 方法
【主权项】:
1、一种用于保护半导体结构的输入端不受静电放电事件损害的方法,该方法包括下列步骤:提供串联耦合至输入端的第一二极管(130)及第二二极管(132);正向偏压该第一二极管及该第二二极管;以及当静电放电事件发生时,短路该第一二极管及该第二二极管的其中一个二极管。
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