[发明专利]陶瓷材料中的余辉的测量和/或判断方法和检测器无效
| 申请号： | 200780030252.7 | 申请日： | 2007-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN101523196A | 公开（公告）日： | 2009-09-02 |
| 发明（设计）人： | C·R·龙达;G·蔡特勒;H·施赖讷马赫尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01T1/20 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 于 辉 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及陶瓷材料中的余辉的测量和/或判断方法和检测器。具体地说，本发明涉及通过测量Eu-、Tb-和/或Yb-含量来测量和/或判断陶瓷材料，尤其是Gd2O2S材料和/或前体材料中的余辉的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 陶瓷材料 中的 余辉 测量 判断 方法 检测器 | ||
【主权项】：
1、Gd2O2S:M荧光陶瓷材料和/或所述陶瓷材料的前体材料中的余辉的测量和/或判断方法，其中M代表至少一种选自Pr、Dy、Sm、Ce、Nd和/或Ho的元素，其中，通过测量在所述荧光陶瓷材料和/或前体材料中的Eu-、Tb-和/或Yb-浓度来测量和/或判断余辉。
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