[发明专利]信息记录介质评价方法、信息记录介质、信息记录介质的制造方法、信号处理方法、访问控制装置无效

专利信息
申请号: 200780030181.0 申请日: 2007-12-26
公开(公告)号: CN101501774A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 宫下晴旬;中田浩平 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18;G11B20/10;G11B7/0045;G11B20/14
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种信息记录介质评价方法、信息记录介质、信息记录介质的制造方法、信号处理方法、访问控制装置。本发明的评价信息记录介质的评价方法包括:收取根据表示从信息记录介质再生的信息的模拟再生信号来生成的数字再生信号,对数字再生信号的波形进行整形的步骤;对整形后的数字再生信号进行最大似然解码,生成表示最大似然解码的结果的2值化信号的步骤;和根据整形后的数字再生信号和2值化信号,计算数字再生信号的品质的步骤。当采用最小差分度量的合流路径中包含多个零交叉部分的PRML方式来计算品质的情况下,仅仅使用非最小差分度量的合流路径中仅包含一个零交叉部分的状态迁移模式来计算品质。
搜索关键词: 信息 记录 介质 评价 方法 制造 信号 处理 访问 控制 装置
【主权项】:
1、一种评价方法,用于评价信息记录介质,所述评价方法包括:收取根据表示从信息记录介质再生的信息的模拟再生信号来生成的数字再生信号,对所述数字再生信号的波形进行整形的步骤;对所述整形后的数字再生信号进行最大似然解码,生成表示所述最大似然解码的结果的2值化信号的步骤;和根据所述整形后的数字再生信号和所述2值化信号,计算所述数字再生信号的品质的步骤;当采用最小差分度量的合流路径中包含多个零交叉部分的PRML方式来计算所述品质的情况下,仅仅使用非最小差分度量的合流路径中仅包含一个零交叉部分的状态迁移模式来计算所述品质。
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