[发明专利]信息记录介质评价方法、信息记录介质、信息记录介质的制造方法、信号处理方法、访问控制装置无效
| 申请号: | 200780030181.0 | 申请日: | 2007-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN101501774A | 公开(公告)日: | 2009-08-05 |
| 发明(设计)人: | 宫下晴旬;中田浩平 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18;G11B20/10;G11B7/0045;G11B20/14 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 信息 记录 介质 评价 方法 制造 信号 处理 访问 控制 装置 | ||
1、一种评价方法,用于评价信息记录介质,所述评价方法包括:
收取根据表示从信息记录介质再生的信息的模拟再生信号来生成的 数字再生信号,对所述数字再生信号的波形进行整形的步骤;
对所述整形后的数字再生信号进行最大似然解码,生成表示所述最大 似然解码的结果的2值化信号的步骤;和
根据所述整形后的数字再生信号和所述2值化信号,计算所述数字再 生信号的品质的步骤;
当采用最小差分度量的合流路径中包含多个零交叉部分的PRML方 式来计算所述品质的情况下,仅仅使用非最小差分度量的合流路径中仅包 含一个零交叉部分的状态迁移模式来计算所述品质。
2、根据权利要求1所述的评价方法,其特征在于,
形成在所述信息记录介质的最短标记的空间频率比OTF截止频率高。
3、根据权利要求1所述的评价方法,其特征在于,
进一步使用通过与形成在所述信息记录介质的最长标记和最长间隙 的组合相对应的信号振幅的中心与再生信号波形的能量中心之比所得到 的指标,计算所述品质。
4、根据权利要求1所述的评价方法,其特征在于,
所述PRML方式是PR12221ML方式。
5、根据权利要求1所述的评价方法,其特征在于,
根据所述计算的品质,决定再生信号的SN比的程度和边缘移位的程 度中的至少一个。
6、根据权利要求5所述的评价方法,其特征在于,
根据表示所述计算的品质的值的分布的平均值,决定所述再生信号的 边缘移位的程度。
7、根据权利要求5所述的评价方法,其特征在于,
根据表示所述计算的品质的值的分布的标准偏差,决定所述再生信号 的SN比的程度。
8、一种装置,对利用权利要求1所述的评价方法来评价的信息记录 介质,进行信息的再生及记录中的至少一种。
9、一种信息记录介质,由权利要求1所述的评价方法来评价。
10、一种信息记录介质,具有:
基板;
保护层;和
记录层,配置在所述基板与所述保护层之间;
对于所述信息记录介质,当采用最小差分度量的合流路径中包含多个 零交叉部分的PRML方式进行评价的情况下,仅仅使用非最小差分度量的 合流路径中仅包含一个零交叉部分的状态迁移模式来进行评价。
11、根据权利要求10所述的信息记录介质,其特征在于,
所述信息记录介质具有一层以上的所述记录层,
所述记录层的每一层的记录线密度是31GB以上。
12、根据权利要求11所述的信息记录介质,其特征在于,
所述记录层的每一层的记录线密度是31.8GB以上。
13、根据权利要求12所述的信息记录介质,其特征在于,
所述记录层的每一层的记录线密度是大约33.3GB。
14、根据权利要求10所述的信息记录介质,其特征在于,
所述信息记录介质具有三层以上的所述记录层。
15、根据权利要求14所述的信息记录介质,其特征在于,
三层的所述记录层的合计的记录线密度是大约100GB。
16、根据权利要求10所述的信息记录介质,其特征在于,
在对所述信息记录介质进行评价时使用的物镜的开口数是0.7~0.9。
17、根据权利要求16所述的信息记录介质,其特征在于,
所述物镜的开口数是0.85。
18、根据权利要求10所述的信息记录介质,其特征在于,
在对所述信息记录介质进行评价时使用的激光的波长是410nm以下。
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