[发明专利]用于通过使用多个时分频率来检测电容的方法和设备有效
| 申请号： | 200780027563.8 | 申请日： | 2007-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN101490566A | 公开（公告）日： | 2009-07-22 |
| 发明（设计）人： | 李相喆 | 申请（专利权）人： | 爱迪半导体株式会社 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 在此公开了一种用于检测电容的方法，该方法包括：允许振荡器根据电容检测板所检测的电容来输出多个时分振荡频率；在预定时间周期期间，对所述多个时分振荡频率进行计数；以及，抵消由于噪声而造成的所述振荡频率的增大和减小，以使得计数值在所述预定时间周期期间变得一致。即使施加了外部噪声，因外部噪声而造成的振荡频率的扭曲会被最小化，并且振荡频率仅随电容检测板的电容而变化。因此，可以在检测电容时防止因噪声而造成的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 通过 使用 时分 频率 检测 电容 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种用于检测电容的方法，该方法包括：允许振荡器根据电容检测板所检测的电容来输出多个时分振荡频率；在预定时间周期期间，对所述多个时分振荡频率进行计数；以及抵消由于噪声而造成的所述振荡频率的增大和减小，以使得计数值在所述预定时间周期上变得一致。
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