[发明专利]用于通过使用多个时分频率来检测电容的方法和设备有效
| 申请号: | 200780027563.8 | 申请日: | 2007-03-14 |
| 公开(公告)号: | CN101490566A | 公开(公告)日: | 2009-07-22 |
| 发明(设计)人: | 李相喆 | 申请(专利权)人: | 爱迪半导体株式会社 |
| 主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
| 代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人: | 周建秋;王凤桐 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 通过 使用 时分 频率 检测 电容 方法 设备 | ||
1.一种用于检测电容的方法,该方法包括:
振荡器根据电容检测板所检测的电容来输出多个时分振荡频率;
在预定时间周期期间,对所述多个时分振荡频率进行计数;以及
抵消由于噪声而造成的所述多个时分振荡频率的增大和减小,以使得多个时分振荡频率的计数值在所述预定时间周期上变得一致。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,当所述多个时分振荡频率fo1、fo2、...、fo(n-1)和fon满足关系fo1<fo2<...<fo(n-1)<fon,并且生成所述频率fo1的周期是tp1,生成所述频率fo2的周期是tp2,...,以及生成所述频率fon的周期是tpn的时候,所述振荡器进行振荡以使得tp1>tp2>...tp(n-1)>tpn。
3.根据权利要求2所述的方法,其中所述振荡器进行振荡以使得(fo1*tp1)=(fo2*tp2)=...=(fon*tpn)。
4.根据权利要求1所述的方法,其中所述多个时分振荡频率在预定振荡时间周期期间振荡,并且在预定时间周期过去之后再次振荡。
5.一种用于检测电容的设备,该设备包括:
电容检测板,用于检测电容的变化;
振荡器,用于根据所述电容检测板所检测的电容来振荡出多个时分振荡频率;
频率计数器,用于在预定时间周期期间对所述振荡器的多个时分振荡频率进行计数;以及
比较单元,用于计算频率变化,并在该频率变化大于预定检测级别时输出检测信号,所述频率变化为所述频率计数器的计数值与预定参考计数值之差。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱迪半导体株式会社,未经爱迪半导体株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200780027563.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:测量电容元件容量的方法和设备
- 下一篇:导航设备





