[发明专利]用于形成屏蔽栅极沟槽FET的结构和方法有效

专利信息
申请号: 200780023013.9 申请日: 2007-05-21
公开(公告)号: CN101473443A 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: 内森·克拉夫特;克里斯多佛·博古斯洛·科库;保尔·托鲁普 申请(专利权)人: 飞兆半导体公司
主分类号: H01L29/76 分类号: H01L29/76
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余 刚;吴孟秋
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种场效应晶体管(FET)包括延伸进入半导体区域的多个沟槽。每个沟槽包括栅极电极和屏蔽电极,其间含有极间电介质,其中,屏蔽电极和栅极电极电连接在一起。
搜索关键词: 用于 形成 屏蔽 栅极 沟槽 fet 结构 方法
【主权项】:
1. 一种场效应晶体管(FET),包括:沟槽,延伸进入半导体区域;屏蔽电极,位于所述沟槽下部,所述屏蔽电极通过屏蔽电介质而与所述半导体区域隔离;极间电介质(IED),位于所述屏蔽电极上方;以及栅极电极,位于所述IED上方的所述沟槽上部,所述栅极电极通过栅极电介质而与所述半导体区域隔离,其中,所述屏蔽电极电连接至所述栅极电极。
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