[发明专利]薄硅或者锗片以及由薄片形成的光电池无效

专利信息
申请号: 200780017394.X 申请日: 2007-03-13
公开(公告)号: CN101443888A 公开(公告)日: 2009-05-27
发明(设计)人: 亨利·希斯梅尔;罗纳德·J·莫索;罗伯特·B·林奇;希夫库玛·奇鲁沃鲁;威廉·E·麦克戈沃恩;克雷格·R·霍恩;纳拉延·索拉亚潘;罗纳德·M·康奈尔 申请(专利权)人: 内诺格雷姆公司
主分类号: H01L21/20 分类号: H01L21/20;H01L21/31;H01L21/205
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张 波
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 薄半导体箔可以利用光反应沉积形成。这些箔可以具有小于100微米的平均厚度。在一些实施例中,半导体箔可以具有大的表面面积,诸如大于约900平方厘米的表面面积。该箔可以是独立的或者可释放地支承在一个表面上。半导体箔可以包括单质硅、单质锗、碳化硅、其的掺杂形式、其合金或者其混合物。该箔可以利用释放层形成,该释放层可以在箔的沉积之后释放箔。这些箔可以以其他方法被图案化、被切割或者被处理,从而形成器件。可以由该箔形成的适当的器件包括,例如光电模块或者显示器控制电路。
搜索关键词: 或者 以及 薄片 形成 光电池
【主权项】:
1. 一种片,其包括具有不大于约100微米的平均厚度和至少约900平方厘米的表面面积的晶体硅、晶体锗、碳化硅、氮化硅、其的掺杂材料或者其合金,其中所述片是自由的、或者沿一个表面是自由的而且沿相对表面被可释放地连接到衬底上。
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