[发明专利]放射线检测器及放射线检查装置无效
| 申请号： | 200780015248.3 | 申请日： | 2007-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN101432636A | 公开（公告）日： | 2009-05-13 |
| 发明（设计）人： | 天野大三 | 申请（专利权）人： | 住友重机械工业株式会社 |
| 主分类号： | G01T1/161 | 分类号： | G01T1/161;G01T1/24 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 杨 谦;胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在布线基板(21)上沿着进深方向(Y轴方向)配置第一及第二半导体检测元件阵列(22a、22b)。第一及第二半导体检测元件阵列(22a、22b)分别将6个半导体检测元件(231～236)在其排列方向(X轴方向)上排列为一列而成，在其排列方向的两端部上设有保护部件(28a、28b)。第一及第二半导体检测元件阵列(22a、22b)的各自的半导体检测元件(231～236)被配置成将从基准线(Xa)开始第k个(k是1～6的任一个)半导体检测元件(23k)在排列方向上相互移位半导体检测元件(231～236)的间隔(PT)的1/2。 | ||
| 搜索关键词： | 放射线 检测器 检查 装置 | ||
【主权项】：
1、一种放射线检测器，具备半导体检测部，所述半导体检测部具有通过放射线的入射产生电子空穴对的多个半导体检测元件，其特征在于，上述半导体检测部具备n个半导体检测元件阵列，所述半导体检测元件阵列是在基板上将多个半导体检测元件在第一方向上以规定间隔排列而成；上述n个半导体检测元件阵列在相对于第一方向正交的第二方向上从第1列排列到第n列；上述第1列到第n列的半导体检测元件阵列被配置成分别从第一方向的基准位置移位上述规定间隔的0、1/n、……、(n-1)/n的某一个，其中，n是2以上的整数。
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