[发明专利]放射线检测器及放射线检查装置

权利要求书

1.一种放射线检测器，具备半导体检测部，所述半导体检测部具有通 过放射线的入射产生电子空穴对的多个半导体检测元件，其特征在于，

上述半导体检测部具备n个半导体检测元件阵列，所述半导体检测元 件阵列是在基板上将多个半导体检测元件在第一方向上以规定间隔排列而 成；

上述n个半导体检测元件阵列在相对于第一方向正交的第二方向上从 第1列排列至第n列；

上述第1列到第n列的半导体检测元件阵列被配置成分别从第一方向 的基准位置移位上述规定间隔的0、1/n、……、(n-1)/n的某一个，其中， n是2以上的整数，

上述第1列～第n列半导体检测元件阵列在其第一方向的一端部侧还 具备保护部件，以使该一端部距离上述基准位置为相等的距离。

2.如权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于，

上述半导体检测元件阵列被配置成从第1列到第n列依次移位上述规 定间隔的1/n。

3.如权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于，

上述半导体检测元件阵列分别由m个半导体检测元件构成；

沿着上述第二方向相邻的两个半导体检测元件阵列被配置成从上述基 准位置开始第k个各自的半导体检测元件相互移位上述规定间隔的1/n，其 中，m是2以上的整数，k是1～m的任一个整数。

4.如权利要求1所述的放射线检测器，其特征在于，

上述第1列～第n列半导体检测元件阵列在与其第一方向的上述一端 部相反一侧的另一端部上还具备其他保护部件，以使该半导体检测元件阵 列的第一方向的长度相等。

5.如权利要求1～4中任一项所述的放射线检测器，其特征在于，

上述半导体检测元件阵列沿着第二方向相互分隔。

6.如权利要求1～4中任一项所述的放射线检测器，其特征在于，

当设上述规定的间隔为PT时，将该PT与上述n的比PT/n设定为0.5mm 以上1.0mm以下。

7.如权利要求1～4中任一项所述的放射线检测器，其特征在于，

上述n是2；

上述第1列半导体检测元件阵列的半导体检测元件与上述第2列半导 体检测元件阵列的半导体检测元件被配置成在第一方向上相互错开上述规 定间隔的1/2。

8.一种放射线检查装置，具备：

权利要求1～7中任一项所述的放射线检测器，检测从含有放射性同位 素的被检体产生的放射线；以及

信息处理单元，基于从上述放射线检测器取得的包括放射线的入射时 刻及入射位置的检测信息，取得上述放射性同位素的被检体内的分布信息。