[发明专利]重复利用不合格的多晶元封装无效
| 申请号： | 200780002176.9 | 申请日： | 2007-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN101553919A | 公开（公告）日： | 2009-10-07 |
| 发明（设计）人： | A·梅厄 | 申请（专利权）人： | 晟碟以色列有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/34 | 分类号： | H01L23/34 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 赵 冰 |
| 地址： | 以色列*** | 国省代码： | 以色列;IL |
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| 摘要： | 本发明指导了通过隔离封装的有效部分并将不合格的多晶元存储器封装用作较小的存储器封装来重复利用它。 | ||
| 搜索关键词： | 重复 利用 不合格 多晶 封装 | ||
【主权项】：
1.一种多晶元存储器封装，所述封装包括：(a)多个存储器晶元；和(b)用于所述多个存储器晶元中的每个晶元的来自所述封装的至少一个外部连接，所述至少一个外部连接中用于专门提供电压供应线路给所述多个存储器晶元中的一个单个晶元。
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