[实用新型]键盘自动化检测装置及检测系统无效
| 申请号: | 200720146540.6 | 申请日: | 2007-05-10 |
| 公开(公告)号: | CN201053941Y | 公开(公告)日: | 2008-04-30 |
| 发明(设计)人: | 邱士文;蔡温育;蔡磊龙 | 申请(专利权)人: | 达方电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G01N3/32 | 分类号: | G01N3/32;G01M19/00 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陈小雯;李晓舒 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本实用新型为一种键盘自动化检测装置,包括有一伸缩装置,一按压测试元件,一行程控制元件,一双轴向移动平台,第一型态以伸缩装置带动连动杆产生轴向位移,并使连动杆另一端的按压测试元件受重力作用下落按压键盘,第二型态为设定一行程距离使按压测试元件依行程距离下落按压键盘;另除两型态外,放置键盘的平台可沿X、Y轴作双轴向移动,可测试按键四个角落,使按键合格率更高。 | ||
| 搜索关键词: | 键盘 自动化 检测 装置 系统 | ||
【主权项】:
1.一种键盘自动化检测装置,其特征在于,包含:一伸缩装置,具有一轴向伸缩装置且连接一轴向固定长度的连动杆,连动杆末端具有一横向短杆;一按压测试元件,为一轴向长形且末端为一尖形钝头元件,该按压测试元件中具有一空间,且该按压测试元件顶面具有一直径大于连动杆小于横向短杆长度的孔洞,该孔洞沿轴向贯穿至该空间;该连动杆置入该孔洞至并延伸至该空间内,横向短杆位于该空间内并承托该按压测试元件。
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