[实用新型]键盘自动化检测装置及检测系统无效

专利信息
申请号: 200720146540.6 申请日: 2007-05-10
公开(公告)号: CN201053941Y 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 邱士文;蔡温育;蔡磊龙 申请(专利权)人: 达方电子股份有限公司
主分类号: G01N3/32 分类号: G01N3/32;G01M19/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陈小雯;李晓舒
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 键盘 自动化 检测 装置 系统
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种键盘自动化检测装置,特别是涉及一种多样型态按压测试模式的键盘自动化检测装置。

背景技术

在现今资讯化社会中,键盘几乎是各种电子设备不可或缺的数据输入装置,如常见的个人电脑、笔记型电脑、电子计算机、电话机...等等皆以键盘为控制命令或数据输入的主要装置。因此,键盘的功能正常与否将影响到输入电子设备的信号,固有必要对键盘进行测试以判断按键的功能是否正常。

然而,目前业界对于键盘按键的测试,一般采用人工或机器来测试,人工方式乃是以雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键,人工成本高,测试效率低,且以人力按压按键的测试方式,不仅按压的力道大小不一,也容易因按键按压表面受力不均,易产生误判的情形。另外,在测试各种其他不同按键类型键盘下,如电容薄膜式等,两者按压压力明显有所差距,并且在长时间按压及按压力道改变的情况下,使误判的机率大幅增加,增加品质管制的难度。

而以机器测试的方法,如现有TW519244,以气压方式输出压按力量,逐一测试每一键盘上的按键按压及灯号显示。其装置包括一对夹持元件以及至少一定位装置,以夹持固定上述待测的键盘;型态测试模组,设有若干配合上述键盘特殊功能按键及灯号布设位置的按压测试元件及旋钮测试器及灯号检测,用以检测键盘中的特殊按键及灯号状态;压按测试装置,具有伸缩气动压按元件,内部连结气压源,通过气体喷出的气压压按待测键盘的按键,并以一位移机构来带动该压按测试装置平移,以依序移动压按键盘所有的按键,再由键盘信号连结装置,连结待测键盘的按键压按信号至判读控制机构,以判读上述灯号及按键按压信号是否正确,为一功能及结构复杂的测试装置。

发明内容

本实用新型主要目的在于提供一种键盘自动化检测装置,其是通过一伸缩装置带动一按压测试元件受重力作用而落下撞击键盘的按键,按压测试键盘上每一按键功能正常与否,节省键盘测试的人工及工时,提高键盘测试效率。

本实用新型的目的是这样实现,即提供一种键盘自动化检测装置,包括有一伸缩装置、一按压测试元件,并将一轴向伸缩装置与一按压测试元件以一连动杆作可动式连接,使轴向伸缩装置作伸缩动作时按压测试元件可受重力作用而落下撞击键盘的按键,达到测试按键的目的。

本实用新型的又一目的,即是在提供一种键盘自动化检测装置,是通过一行程控制元件控制伸缩装置带动按压测试元件所行进的距离,撞击键盘的按键,按压测试键盘上每一按键功能正常与否,节省键盘测试的人工及工时,提升键盘测试效率。

为达到上述目的,本实用新型提供一种键盘自动化检测装置,包括有一伸缩装置、一按压测试元件及一行程控制元件,将一轴向伸缩装置与一按压测试元件以一连动杆作固定式连接,使轴向伸缩装置作伸缩动作时按压测试元件受行程距离控制撞击键盘的按键,达到测试按键的目的。

本实用新型的又一目的,即是在提供一种键盘自动化检测装置,具有一双轴向移动平台,置于键盘自动化检测装置之相对位置,即位于按压测试元件的下方,用以放置待测键盘,且得以沿水平面X、Y轴向任意移动,并可测试按键的四周边角被按压时是否也能正常输入信号。

本实用新型的优点在于,其可通过一伸缩装置带动一按压测试元件受重力作用而落下撞击键盘的按键,或通过一行程控制元件控制伸缩装置带动按压测试元件所行进的距离,撞击键盘的按键,可按压测试键盘上每一按键功能正常与否,节省键盘测试的人工及工时,提高键盘测试效率,其结构简单、使用方便。

附图说明

图1为本键盘自动化检测装置的第一型态结构图;

图2为本键盘自动化检测装置的第二型态结构图;

图3a、图3b为本键盘自动化检测系统的立体结构图。

主要元件符号说明

1伸缩装置

11轴向伸缩装置

12连动杆

2,7按压测试元件

3横向短杆

4方形贯通孔洞

5弹簧

6按键

8行程控制元件

9双轴向移动平台

具体实施方式

为使贵审查委员能对本实用新型的特征、目的及功能有更进一步的认知与了解,下文特将本实用新型相关细部结构以及设计理念原由进行说明,以使得贵审查委员可以了解本实用新型的特点,详细说明陈述如下:

兹配合下列图式说明本实用新型之详细结构及其连结关系,以利审查委员作一了解。

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