[实用新型]测量半导体硅材料P/N型及电阻率的多功能测试仪有效
| 申请号： | 200720127466.3 | 申请日： | 2007-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN201096867Y | 公开（公告）日： | 2008-08-06 |
| 发明（设计）人： | 任林生;李建帅;曾勇 | 申请（专利权）人： | 新疆新能源股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R27/02 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人： | 罗建民;张天舒 |
| 地址： | 830011新疆维吾尔*** | 国省代码： | 新疆;65 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测量半导体硅材料P/N型及电阻率的多功能测试仪，包括多路输出控制变压器、整流电路、稳压电路，还包括单晶硅P/N型探针连接检测端口和单晶硅电阻率探针连接检测端口，单晶硅P/N型探针连接检测端口与多路输出控制变压器的一输出端连接，该探针连接检测端口还与整流电路、滤波电路连接，再接一运算放大器，运算放大器分别通过NPN和PNP型三极管与能够显示单晶硅P/N型的数码管驱动连接；单晶硅电阻率探针连接检测端口与整流电路、滤波、恒流稳压电路连接，整流电路与多路输出控制变压器的一输出端连接，电阻率探针检测端口还与显示电阻率的数字电压表连接。本实用新型结构简单、便携体积小、测量数据快稳、操作简单易行。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 半导体 材料 电阻率 多功能 测试仪 | ||
【主权项】：
1. 一种测量半导体硅材料P/N型及电阻率的多功能测试仪，包括多路输出控制变压器、整流电路、稳压电路，其特征在于还包括单晶硅P/N型探针连接检测端口和单晶硅电阻率探针连接检测端口，单晶硅P/N型探针连接检测端口与多路输出控制变压器的一输出端连接，该探针连接检测端口还与整流电路、滤波电路连接，再接一运算放大器，运算放大器分别通过NPN或PNP型三极管与能够显示单晶硅P/N型的数码管驱动连接；单晶硅电阻率探针连接检测端口与整流电路、滤波、恒流稳压电路连接，整流电路与多路输出控制变压器的一输出端连接，电阻率探针检测端口还与显示电阻率的数字电压表连接。
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