[实用新型]PDP基板介质层特性测试装置无效
申请号: | 200720041691.5 | 申请日: | 2007-11-30 |
公开(公告)号: | CN201130167Y | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 吉志坚;李青;张雄;朱立锋;王保平;林青园 | 申请(专利权)人: | 南京华显高科有限公司 |
主分类号: | G01N27/92 | 分类号: | G01N27/92;G01R31/12 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 | 代理人: | 夏平;瞿网兰 |
地址: | 210061江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种PDP基板介质层特性测试装置,属于一种平板电视检测技术,包括盖板(1)、承片台(3)和耐压测试仪(6),盖板(1)的一边和承片台(3)的一边相铰接,其特征是所述的盖板(1)上设有大面积导电薄膜(2)和电极引出条(201,202,203,204,205),在承片台(3)上设有软玻璃密封条(5),该软玻璃密封条(5)的周边与PDP基板的周边相匹配,在承片台(3)中安装有无油真空泵(4),无油真空泵(4)的吸气口承片台(3)上的抽气口(7)相通,耐压测试仪(6)的检测电极与盖板(1)上对应的电极引出条(201,202,203,204,205)相连。本实用新型解决了生产急需,具有结构简单,操作方便,测试准确可靠的优点。 | ||
搜索关键词: | pdp 介质 特性 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种PDP基板介质层特性测试装置,包括盖板(1)、承片台(3)和耐压测试仪(6),盖板(1)的一边和承片台(3)的一边相铰接,其特征是所述的盖板(1)上设有大面积导电薄膜(2)和电极引出条(201,202,203,204,205),其中电极引出条(202)与大面积导电薄膜(2)相连,电极引出条(201,203,204,205)与被测PDP基板的前基板和后基板上的电极相对应;在承片台(3)上设有软玻璃密封条(5),该软玻璃密封条(5)的周边与PDP基板的周边相匹配,在承片台(3)中安装有无油真空泵(4),无油真空泵(4)的吸气口与承片台(3)上的抽气口(7)相通,耐压测试仪(6)的检测电极与盖板(1)上对应的电极引出条(201,202,203,204,205)相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京华显高科有限公司,未经南京华显高科有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200720041691.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:图形删除系统及方法
- 下一篇:一种降低运载体运动阻力的主动式风力发电方法