[实用新型]PDP基板介质层特性测试装置无效
| 申请号： | 200720041691.5 | 申请日： | 2007-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN201130167Y | 公开（公告）日： | 2008-10-08 |
| 发明（设计）人： | 吉志坚;李青;张雄;朱立锋;王保平;林青园 | 申请（专利权）人： | 南京华显高科有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/92 | 分类号： | G01N27/92;G01R31/12 |
| 代理公司： | 南京天华专利代理有限责任公司 | 代理人： | 夏平;瞿网兰 |
| 地址： | 210061江苏省南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | pdp 介质 特性 测试 装置 | ||
1、一种PDP基板介质层特性测试装置，包括盖板(1)、承片台(3)和耐压测试仪(6)，盖板(1)的一边和承片台(3)的一边相铰接，其特征是所述的盖板(1)上设有大面积导电薄膜(2)和电极引出条(201，202，203，204，205)，其中电极引出条(202)与大面积导电薄膜(2)相连，电极引出条(201，203，204，205)与被测PDP基板的前基板和后基板上的电极相对应；在承片台(3)上设有软玻璃密封条(5)，该软玻璃密封条(5)的周边与PDP基板的周边相匹配，在承片台(3)中安装有无油真空泵(4)，无油真空泵(4)的吸气口与承片台(3)上的抽气口(7)相通，耐压测试仪(6)的检测电极与盖板(1)上对应的电极引出条(201，202，203，204，205)相连。
2、根据权利要求1所述的PDP基板介质层特性测试装置，其特征是在盖板(1)上与承片台(3)上的软玻璃密封条(5)相对位置处设有硅橡胶密封条。
3、根据权利要求1所述的PDP基板介质层特性测试装置，其特征是所述的电极引出条(201，204)与PDP基板的前基板上的电极相对应，电极引出条(203，205)与PDP基板的后基板上的电极相对应，大面积导电薄膜(2)与PDP基板上的介质层相对，并通过电极引出条(202)引出盖板(1)形成基板电极的对电极。
4、根据权利要求1所述的PDP基板介质层特性测试装置，其特征是所述的无油真空泵(4)的真空压力为0.08MPa左右。
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