[发明专利]CMOS电池电压测试装置无效
| 申请号： | 200710203523.6 | 申请日： | 2007-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN101470172A | 公开（公告）日： | 2009-07-01 |
| 发明（设计）人： | 魏刚 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/36 | 分类号： | G01R31/36;G01R19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种CMOS电池电压测试装置，包括一电压产生电路、一比较放大器及一发光二极管，电压产生电路连接一电源，比较放大器的一输入端连接一CMOS电池的正极，另一输入端通过一第一分压电阻与电压产生电路相连，并通过一第二分压电阻接地，输出端连接发光二极管的阳极，发光二极管的阴极接地，CMOS电池的负极接地，电压产生电路产生一电压，经第一、第二分压电阻的分压，在比较放大器的另一输入端产生一比较电压，比较放大器通过比较其两输入端的电压，在其输出端输出高电平或低电平信号，驱使发光二极管导通或截止，以指示CMOS电池当前电压大于或小于比较电压。所述CMOS电池电压测试装置原理简单，易于实现。 | ||
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【主权项】：
【权利要求1】一种CMOS电池电压测试装置，包括一电压产生电路、一比较放大器及一发光二极管，所述电压产生电路连接一电源，所述比较放大器的一输入端连接于一CMOS电池的正极，另一输入端通过一第一分压电阻与所述电压产生电路相连，并通过一第二分压电阻接地，输出端连接所述发光二极管的阳极，发光二极管的阴极接地，所述CMOS电池的负极接地，所述电压产生电路产生大于CMOS电池总电压的一电压，经所述第一、第二分压电阻的分压，在所述比较放大器的另一输入端产生一比较电压，所述比较放大器通过比较其两输入端的电压，在其输出端输出高电平或低电平信号，驱使所述发光二极管导通或截止，以指示CMOS电池当前电压大于或小于比较电压。
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