[发明专利]CMOS电池电压测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种电池电压测试装置，特别涉及一种测试CMOS电池电压的测试装置。

背景技术

众所周知，电脑中的CMOS芯片是电脑主板上的一块可读写的RAM芯片，主要用来保存当前系统的硬件配置和操作人员对某些参数的设定，CMOS芯片由系统通过一块后备电池，即CMOS电池供电，因此无论是在关机状态，还是系统掉电的情况下，CMOS芯片上的信息都不会丢失，CMOS电池的总电压为3V，通常，当其电压消耗至小于2V时，就难以继续对CMOS芯片供电，当CMOS芯片供电不足时，电脑会出现某些参数的信息错误，或运行速度慢等一系列的问题，但是如果用户能够及时获知CMOS电池当前的电压，在CMOS电池电压消耗至将要不足以为CMOS芯片供电时，及时更换CMOS电池，上述问题便可得以解决。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种CMOS电池电压测试装置，在测试出CMOS电池电压后进行显示。

一种CMOS电池电压测试装置，包括一电压产生电路、一比较放大器及一发光二极管，所述电压产生电路连接一电源，所述比较放大器的一输入端连接于一CMOS电池的正极，另一输入端通过一第一分压电阻与所述电压产生电路相连，并通过一第二分压电阻接地，输出端连接所述发光二极管的阳极，发光二极管的阴极接地，所述CMOS电池的负极接地，所述电压产生电路产生大于CMOS电池总电压的一电压，经所述第一、第二分压电阻的分压，在所述比较放大器的另一输入端产生一比较电压，所述比较放大器通过比较其两输入端的电压，在其输出端输出高电平或低电平信号，驱使所述发光二极管导通或截止，以指示CMOS电池当前电压大于或小于比较电压。

一种CMOS电池电压测试装置，包括一电压产生电路、若干比较放大器、若干发光二极管及若干第一分压电阻，所述电压产生电路连接一电源，所述第一电阻串联连接于所述电压产生电路与地之间，每一比较放大器的一输入端连接于一CMOS电池的正极，另一输入端分别连接于所述第一分压电阻之间的连接节点，输出端分别连接一对应的发光二极管的阳极，每一发光二极管的阴极接地，所述CMOS电池的负极接地，所述电压产生电路产生大于CMOS电池总电压的一电压，经所述第一分压电阻的分压，分别在每一比较放大器的另一输入端产生一比较电压，每一比较放大器通过比较其两输入端的电压，在其输出端输出高电平或低电平信号，驱使对应的发光二极管导通或截止，以分别指示CMOS电池当前电压大于或小于对应的比较电压。

所述CMOS电池电压测试装置利用比较放大器对所述CMOS电池当前的电压与比较电压进行比较，使比较放大器输出高电平驱动发光二极管发光，或输出低电平，二极管不发光，使用户获知CMOS电池当前电压大于或小于比较电压，原理简单，易于实现。

附图说明

下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

图1是本发明CMOS电池电压测试装置较佳实施方式的电路图。

具体实施方式

请参照图1，本发明CMOS电池电压测试装置包括一电压产生电路10、一测试电路20及一指示电路30。

所述电压产生电路10包括一型号为TL431的可调分流基准源T、阻值相同的两分压电阻R1、R2、一限流电阻R3及一电容C1，所述分压电阻R1、R2相连的一端连接所述可调分流基准源T的参考端，分压电阻R1、R2的另一端分别连接所述可调分流基准源T的阴极、阳极，所述可调分流基准源T的阴极连接所述限流电阻R3及所述电容C1的一端，所述限流电阻R3的另一端接至一12V电源，并通过一电容C2接地，所述电容C1的另一端接地所述可调分流基准源T的阳极接地。

所述测试电路20包括比较放大器U1、U2、U3、U4及分压电阻R4、R5、R6、R7、R8，所述比较放大器U1、U2、U3、U4的正向输入端均相连，其连接节点通过串联连接的一电阻R9及一开关S连接一CMOS电池J的正极，所述比较放大器U1的反向输入端通过所述分压电阻R4连接所述可调分流基准源T的阴极，所述比较放大器U1与U2的反向输入端之间、U2与U3的反向输入端之间、U3与U4的反向输入端之间分别连接所述分压电阻R5、R6、R7，所述比较放大器U4的反向输入端还通过所述分压电阻R8接地。