[发明专利]插座基板上具有开关元件的测试装置有效
| 申请号： | 200710196103.X | 申请日： | 2007-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN101452030A | 公开（公告）日： | 2009-06-10 |
| 发明（设计）人： | 郑文杰 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/01;G01R31/02;G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汤保平 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种集成电路元件测试装置包含一基板本体上设有多数个阵列分布的测试插座，测试插座具有多数个导电元件用以提供至少一待测集成电路元件电性连接至基板本体，再由基板本体传递测试信号至基板本体底部，其中，基板本体底部上，分别形成有多数组分别对应于前后批具有相同接脚规格但接脚电性不同的待测集成电路元件的测试电路，以及用于提供多数组测试电路彼此切换的至少一开关元件，由开关元件切换不同测试电路，故可于同一基板本体上进行测试，不需因待测集成电路元件的接脚电性不同而更换基板本体。 | ||
| 搜索关键词： | 插座 基板上 具有 开关 元件 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种测试集成电路元件的插座基板，该插座基板包含一基板本体，且该基板本体上配置有多数个测试插座，由该测试插座上的多数个导电元件将至少一待测集成电路元件上的多数个金属端点电性连接至该插座基板的底部，其特征在于：该插座基板的底部配置有多数组测试电路以及至少一个开关元件且该开关元件可切换于该多数组测试电路之间。
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