[发明专利]专用集成电路中I/O块的优化布置和验证的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200710182357.6 申请日: 2007-10-18
公开(公告)号: CN101165694A 公开(公告)日: 2008-04-23
发明(设计)人: A·齐夫;A·斯特恩;B·叶格尔 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 于静;李峥
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种在ASIC封装模块中布置和验证I/O引脚的新颖系统和过程。所述系统读取并分析包含芯片设计、技术和封装相关的信息的多个数据文件。将分析的数据存储在单个I/O分配信息数据库中,该数据库用于存储和组织来自所有芯片设计、技术和封装文件的所有数据。通过三组密钥来控制对数据库的访问,且每组中的每个密钥都是唯一的。这三组密钥包括:倒装芯片区域阵列封装或I/O槽(即,芯片布线接合连接)上的引脚名称、封装引脚配位以及可控塌陷芯片连接(C4)。使用这三个密钥以及I/O分配信息数据库的内容来构建封装引脚的动态图形视图。用户输入引脚分配数据,并且作为响应,系统根据一组技术约束来验证所述数据并相应地更新分配数据库。
搜索关键词: 专用 集成电路 优化 布置 验证 方法 装置
【主权项】:
1.一种在集成电路中布置和验证输入/输出引脚的方法,所述方法包括以下步骤:接收包括技术约束和封装以及引脚数据的集成电路相关的数据;分析所述集成电路相关的数据并从中构建输入/输出分配信息数据库;根据所述输入/输出分配信息数据库的内容来构建封装引脚的动态图形视图;以及根据所述技术约束来验证从用户接收的引脚分配;以及根据所述验证来更新所述输入/输出分配信息数据库。
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