[发明专利]一种提高调制探头测温精度的方法有效
| 申请号： | 200710178611.5 | 申请日： | 2007-12-03 |
| 公开（公告）号： | CN101181902A | 公开（公告）日： | 2008-05-21 |
| 发明（设计）人： | 孙庆;张益;南振会;王新华;周立玮;曲歌;朱波 | 申请（专利权）人： | 北京康拓红外技术有限公司 |
| 主分类号： | B61K9/04 | 分类号： | B61K9/04;B61K9/06 |
| 代理公司： | 北京永创新实专利事务所 | 代理人： | 周长琪 |
| 地址： | 100080北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提出了一种提高调制探头测温精度的方法，在调制探头探测温度时，不需测量调制盘温度，不以调制盘温度为背景温度测量被测对象的温度，而是在探测被测对象后，探测一个参考对象，根据探测参考对象的探头输出和参考对象温度，对探头响应曲线进行校正，根据校正后的探头响应曲线计算被测对象的温度，可以消除调制盘温度变化对调制探头测温精度的影响，提高调制探头测温精度，并避免了调制盘温度测量误差的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 调制 探头 测温 精度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种提高调制探头测温精度的方法，其特征在于，包括下列步骤：步骤一：探头探测被测对象，取得探测被测对象的探头输出电压；步骤二：探头在探测被测对象后探测参考对象，取得探测参考对象的探头输出电压，并测量参考对象的温度；步骤三：根据测得的参考对象的探头输出电压和对象温度，对探头响应曲线进行平移校正；步骤四：根据平移校正后的探头响应曲线计算被测对象的温度。
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