[发明专利]检查系统、检查方法、CT装置以及探测装置有效

专利信息
申请号: 200710176528.4 申请日: 2007-10-30
公开(公告)号: CN101424648A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 张丽;陈志强;胡海峰;李元景;刘以农;孙尚民;张文宇;邢宇翔 申请(专利权)人: 清华大学;同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01V5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 张成新
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种检查系统,该系统包括:CT装置,该CT装置包括:滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置;以及传送被检查物体的传送装置,其中所述探测装置包括N排探测器,并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔,其中N为大于1的整数。采用本发明的检查系统,实现了CT装置的高速扫描成像,使CT装置和用于获得二维图像的扫描成像装置同时使用成为可能,从而弥补了互相之间的不足。
搜索关键词: 检查 系统 方法 ct 装置 以及 探测
【主权项】:
1、一种检查系统,该系统包括:CT装置,该CT装置包括:滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置;以及传送被检查物体的传送装置,其中所述探测装置包括N排探测器,并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔,其中N为大于1的整数。
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