[发明专利]检查系统、检查方法、CT装置以及探测装置

说明书

技术领域

本发明涉及检查系统、检查方法、CT装置以及探测装置。 

背景技术

为了解决CT装置扫描速度问题，常规的方法就是使用多排探测器，从而每次可以同时采集多排数据，例如专利申请WO2005/119297。但是由于探测器成本较高，大幅增加排数显得不那么现实。 

发明内容

本发明中提出检查系统、检查方法、CT装置以及探测装置，其中探测装置能够在增加探测装置有效探测面积的情况下，有效减少探测器排数，从而降低了探测装置的成本。 

根据本发明的一方面，本发明提出了一种检查系统，该系统包括：CT装置，该CT装置包括：滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置；以及传送被检查物体的传送装置，其中所述探测装置包括N排探测器，并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔，其中N为大于1的整数。 

所述预定间距可以是5至80mm或者30至50mm。 

根据本发明的另一方面，在滑环每旋转360度的检查区域中，每排探测器检查该区域的360度/N的扇形部分，同时滑环每旋转360度/N，传送装置将物体移动的距离为相邻两排探测器的中心距，由此从所述N排探测器中的传送装置移动方向的上游侧的第一排探测器开始依次到最后一排探测器分别检测对应的360度/N。 

根据本发明的一方面，所述检查系统：还包括用于获得二维图像的扫描成像装置，所述CT装置和所述用于获得二维图像的扫描成像装置能够 同时运行，以同时通过CT装置获得被检查物品的三维图像和通过所述用于获得二维图像的扫描成像装置获得二维图像。 

优选方式是，所述CT装置和所述用于获得二维图像的扫描成像装置同时运行的速度为0.18-0.25m/s。 

根据本法名的一方面，本发明提出了一种检查方法，该方法包括：传送被检查物体；以及利用CT装置检查该物体，其中该CT装置包括：滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置，其中所述探测装置包括N排探测器，并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔，其中N为大于1的整数， 

优选方式是，滑环每旋转360度/N，传送装置将物体移动的距离为相邻两排探测器的中心距，由此从所述N排探测器中的传送装置移动方向的上游侧的第一排探测器开始依次到最后一排探测器分别检测对应的360度/N。 

根据本发明的一方面，所述检查方法还包括利用用于获得二维图像的扫描成像装置对所述物体进行检查，所述CT装置和所述用于获得二维图像的扫描成像装置同时运行，以同时通过CT装置获得被检查物品的三维图像和通过所述用于获得二维图像的扫描成像装置获得二维图像。 

优选方式是，所述CT装置和所述用于获得二维图像的扫描成像装置同时运行的速度为0.18-0.25m/s。 

根据本发明的一方面，本发明提出了一种CT装置，该CT装置包括：滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置，其中所述探测装置包括N排探测器，并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔，其中N为大于1的整数。 

根据本发明的再一方面，本发明提出了一种用于CT装置的探测装置，所述探测装置包括N排探测器，并且相邻两排所述检测器之间具有预定的间隔，其中N为大于1的整数。 

优选方式是，所述预定间距是5至80mm。更优选的方式是所述预定间距是30至50mm。 

附图说明

本发明的这些和/或其他方面和优点从下面结合附图对优选实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中： 

图1为根据本发明实施例的检查系统的示意图。 

图2为根据本发明实施例的CT装置的示意图。 

图3为根据本发明实施例的探测装置的示意图。 

图4为描述根据本发明实施例的探测装置上的探测器的排列的示意俯视图。 

图5为闪烁体探测器的结构示意图。 

图6为闪烁体探测器的俯视图。 

图7为闪烁体探测器的三维效果图。 

图8为由多个探测器模块组合成的单排探测器的俯视图。 

图9为多排宽间距探测器的示意图。 

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同的标号表示相同的元件。下面通过参考附图描述实施例以便解释本发明。