[发明专利]缺陷检测装置及方法、图像传感器器件和模块有效

专利信息
申请号: 200710160840.4 申请日: 2007-12-27
公开(公告)号: CN101210890A 公开(公告)日: 2008-07-02
发明(设计)人: 口井敏匡 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956;G01N21/93;H04N5/217;G01M19/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;王忠忠
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了缺陷检测装置及方法、图像传感器器件和模块,缺陷检测装置包括:像素值校正部,校正作为检测缺陷区域的对象的被检测图像内的像素值,使被检测图像的缺陷区域相对于被检测图像的其它区域被强调;块分割处理部,将像素值已校正的被检测图像分割成多块并求出块相加值或块平均值,块相加值是对各块中所存在像素的像素值进行相加后所得到的值,块平均值是上述块相加值除以该块中所存在的像素的个数后所得到的值;优劣判断部,通过统计处理部的统计处理来判断是否存在上述块相加值或者块平均值的离群值,从而判断是否存在上述缺陷区域。通过强调图像传感器图像的缺陷区域,可实现高精度地检测缺陷区域的缺陷检测装置和缺陷检测方法。
搜索关键词: 缺陷 检测 装置 方法 图像传感器 器件 模块
【主权项】:
1.一种缺陷检测装置,从数字图像内检测缺陷区域,其中,该缺陷区域的像素值较之于该缺陷区域周围的区域的像素值呈不均匀的变化,其特征在于,具有:像素值校正部,校正被检测图像内的像素值,使得应作为上述缺陷区域检出的区域的像素值相对于上述缺陷区域之外的区域的像素值被强调,其中,上述被检测图像是要进行缺陷区域检测的图像;以及块分割处理部,将上述被检测图像分割成多个块并且求出块相加值或块平均值,其中,上述块相加值是对各块中存在的像素的像素值进行相加后所得到的值,上述块平均值是上述块相加值除以该块中存在的像素的个数所得到的值,向缺陷区域有无判断部输出上述块相加值或者块平均值,其中,该缺陷区域有无判断部通过统计处理来判断是否存在上述块相加值或者块平均值的离群值,从而判断是否存在上述缺陷区域。
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