[发明专利]缺陷检测装置及方法、图像传感器器件和模块有效
| 申请号: | 200710160840.4 | 申请日: | 2007-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN101210890A | 公开(公告)日: | 2008-07-02 |
| 发明(设计)人: | 口井敏匡 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
| 主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956;G01N21/93;H04N5/217;G01M19/00 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 程天正;王忠忠 |
| 地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 缺陷 检测 装置 方法 图像传感器 器件 模块 | ||
1.一种缺陷检测装置,从数字图像内检测缺陷区域,其中,该缺陷区域的像素值较之于该缺陷区域周围的区域的像素值呈不均匀的变化,其特征在于,具有:
像素值校正部,校正被检测图像内的像素值,使得应作为上述缺陷区域检出的区域的像素值相对于上述缺陷区域之外的区域的像素值被强调,其中,上述被检测图像是要进行缺陷区域检测的图像;以及
块分割处理部,将上述被检测图像分割成多个块并且求出块相加值或块平均值,其中,上述块相加值是对各块中存在的像素的像素值进行相加后所得到的值,上述块平均值是上述块相加值除以该块中存在的像素的个数所得到的值,
向缺陷区域有无判断部输出上述块相加值或者块平均值,其中,该缺陷区域有无判断部通过统计处理来判断是否存在上述块相加值或者块平均值的离群值,从而判断是否存在上述缺陷区域。
2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于:
上述块分割处理部对已由上述像素值校正部实施了像素值校正的被检测图像进行分割。
3.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于:
上述像素值校正部对上述块分割处理部分割上述被检测图像所得的块的像素值进行校正;
上述块分割处理部求出已由上述像素值校正部实施了像素值校正的各块的块相加值或者块平均值。
4.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于:
上述像素值校正部对已由上述块分割处理部分割成多个块并且求出了上述块相加值或者块平均值的上述被检测图像的像素值进行校正。
5.根据权利要求1所述的缺陷检测装置,其特征在于:
上述像素值校正部利用滤波器对上述被检测图像进行校正,使得在上述被检测图像中像素值越高的区域其像素值的变化越大。
6.一种缺陷检测装置,从数字图像内检测缺陷区域,其中,该缺陷区域的像素值较之于该缺陷区域周围的区域的像素值呈不均匀的变化,其特征在于:
具有块分割处理部,将被检测图像分割成预先根据上述缺陷区域的形状设定的块形状,并且求出块相加值或块平均值,其中,上述被检测图像是要进行缺陷区域检测的图像,上述块相加值是对各块中存在的像素的像素值进行相加后所得到的值,上述块平均值是上述块相加值除以该块中存在的像素的个数后所得到的值,
向缺陷区域有无判断部输出上述块相加值或者块平均值,其中,该缺陷区域有无判断部通过统计处理来判断是否存在上述块相加值或者块平均值的离群值,从而判断是否存在上述缺陷区域。
7.根据权利要求6所述的缺陷检测装置,其特征在于:
上述块形状为纵向较长的长方形。
8.根据权利要求6所述的缺陷检测装置,其特征在于:
上述块形状为横向较长的长方形。
9.一种缺陷检测装置,从数字图像内检测缺陷区域,其中,该缺陷区域的像素值较之于该缺陷区域周围的区域的像素值呈不均匀的变化,其特征在于,具有:
图像生成部,根据被检测图像生成色差图像,其中,上述被检测图像是要进行缺陷区域检测的图像;以及
块分割处理部,将上述图像生成部生成的色差图像分割成多个块并且求出块相加值或者块平均值,其中,上述块相加值是对各块中存在的像素的像素值进行相加后所得到的值,上述块平均值是上述块相加值除以该块中存在的像素的个数后所得到的值,
向缺陷区域有无判断部输出上述块相加值或者块平均值,其中,该缺陷区域有无判断部通过统计处理来判断是否存在上述块相加值或者块平均值的离群值,从而判断是否存在上述缺陷区域。
10.根据权利要求1、6、9中的任意一项所述的缺陷检测装置,其特征在于:
上述块分割部将上述被检测图像分割成多个块,使得相邻的块存在彼此叠合的部分。
11.根据权利要求1、6、9中的任意一项所述的缺陷检测装置,其特征在于,还具有:
点缺陷去除部,从上述被检测图像中除去点缺陷,在该点缺陷中,某像素的像素值与其周围的像素值之差较大;
噪声去除部,利用滤波器除去被检测图像的噪声成分,其中,上述被检测图像是已被上述点缺陷去除部除去了点缺陷的图像;以及
图像压缩部,对已由上述噪声去除部除去了噪声成分的被检测图像进行压缩处理。
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