[发明专利]采用磁控溅射在碳化硅反射镜表面涂覆硅膜的方法无效
| 申请号: | 200710144777.5 | 申请日: | 2007-12-07 |
| 公开(公告)号: | CN101177779A | 公开(公告)日: | 2008-05-14 |
| 发明(设计)人: | 朱嘉琦;姜春竹;韩潇;贾泽纯;韩杰才;张宇民 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号: | C23C14/35 | 分类号: | C23C14/35;C23C14/18;C23C14/02;C23C14/54 |
| 代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人: | 吴国清 |
| 地址: | 150001黑龙江*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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| 摘要: | 采用磁控溅射在碳化硅反射镜表面涂覆硅膜的方法,它涉及碳化硅反射镜表面的涂膜方法。它解决了现有反射镜的两相具有相差悬殊的硬度值,使抛光的均匀性受到影响,加工难度高;反射镜的粗糙度较高、表面易损伤的问题。本发明的方法为:一、将碳化硅反射镜进行清洗;二、将碳化硅反射镜置于磁控溅射真空仓内的加热台上;三、将真空仓内抽真空,对碳化硅反射镜加热;四、通入Ar气,启动电离电源,对碳化硅反射镜表面进行电离清洗;五、向反射镜表面进行磁控溅射沉积镀膜。本发明方法制备的硅膜致密性好,覆盖了碳化硅表面的两相组织,易于抛光,光学精度高,硅膜与反射镜表面的结合性好。 | ||
| 搜索关键词: | 采用 磁控溅射 碳化硅 反射 表面 涂覆硅膜 方法 | ||
【主权项】:
1.采用磁控溅射在碳化硅反射镜表面涂覆硅膜的方法,其特征在于该方法的步骤如下:步骤一、将碳化硅反射镜用丙酮超声波清洗15~30分钟,再用酒精清洗15~30分钟,最后再用去离子水清洗15~30分钟;步骤二、将碳化硅反射镜作为基底置于加热台上,整个装置放入磁控溅射真空仓内;步骤三、通过真空系统将真空仓内抽真空,当真空仓内真空度达到1.0×10-4~9.9×10-4帕时,启动加热装置对碳化硅反射镜加热,加热温度为25~650℃,并且保温10分钟~2小时;步骤四、通入Ar气,当真空仓内压强为3~5帕时,对碳化硅反射镜表面进行反溅清洗10~20分钟;步骤五、反溅清洗完毕后,施加溅射功率启辉,溅射功率为60~200瓦,气体流量控制在10sccm~50sccm,预溅射3~5分钟后,真空仓内气体压强降至0.1~2帕,在反射镜表面上加0~200伏的脉冲负偏压,脉冲的占空比为10%~90%,移开挡板,采用磁控溅射方法向反射镜表面进行磁控溅射沉积镀膜,磁控溅射沉积镀膜时间由膜的厚度来确定,磁控溅射沉积结束,关闭所有电源,待真空仓内温度降至室温时,即完成对碳化硅反射镜表面硅膜的涂覆。
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