[发明专利]次像素精度的位移量侦测方法及使用该方法的装置有效
| 申请号： | 200710128474.4 | 申请日： | 2007-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN101354434A | 公开（公告）日： | 2009-01-28 |
| 发明（设计）人： | 陈信嘉;赵子毅 | 申请（专利权）人： | 原相科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01S3/786 | 分类号： | G01S3/786;G06F3/03 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋;王凤桐 |
| 地址： | 中国台湾新竹科学*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种次像素精度的位移量侦测方法，所述方法包含下列步骤：撷取第一阵列图像以及第二阵列图像；针对所述第一阵列图像进行内插运算以形成参考图像；针对所述第二阵列图像进行内插运算以形成比对图像；以及比对所述参考图像和所述比对图像以求出位移量。本发明还提供一种次像素精度的位移量侦测装置。 | ||
| 搜索关键词： | 像素 精度 位移 侦测 方法 使用 装置 | ||
【主权项】：
1、一种次像素精度的位移量侦测方法，所述方法包含下列步骤：撷取第一阵列图像以及第二阵列图像；针对所述第一阵列图像进行内插运算以形成参考图像；针对所述第二阵列图像进行内插运算以形成比对图像；以及比对所述参考图像和所述比对图像，以求出位移量。
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