[发明专利]次像素精度的位移量侦测方法及使用该方法的装置

权利要求书

1.一种次像素精度的位移量侦测方法，该方法用以侦测光学导航装置 相对于该光学导航装置所放置表面的位移量，所述方法包含下列步骤：

在所述表面上移动所述光学导航装置以分别撷取第一阵列图像以及第 二阵列图像；

针对所述第一阵列图像进行内插运算以形成参考图像；

针对所述第二阵列图像进行内插运算以形成比对图像；以及

比对所述参考图像和所述比对图像，以求出所述光学导航装置相对于所 述表面的所述位移量以进行游标或指向器瞄准点的控制。

2.根据权利要求1所述的次像素精度的位移量侦测方法，所述方法还 包含下列步骤：将所述位移量传送至图像显示装置。

3.根据权利要求1所述的次像素精度的位移量侦测方法，其中所述内 插运算利用下列公式进行：

x[2m+p，2n+q]＝(1-t)×(1-u)×x[2m，2n]+t×(1-u)×x[2m+2，2n]+(1-t)×u×x[2m，2 n+2]+t×u×x[2m+2，2n+2]，

其中，(t，u)＝(p/2，q/2)，且0≤p≤2以及0≤q≤2；

[m，n]表示内插运算前所述第一阵列图像或所述第二阵列图像中每一个 像素的座标；[2m+p，2n+q]表示内插运算后所述参考图像或所述比对图像中 经过内插运算后所产生的像素座标；x[2m+p，2n+q]、x[2m，2n]、x[2m+2，2n]、 x[2m，2n+2]以及x[2m+2，2n+2]表示像素座标的灰阶值或亮度值。

4.根据权利要求1所述的次像素精度的位移量侦测方法，其中比对所 述参考图像和所述比对图像的步骤还包含下列步骤：

在所述参考图像内选定参考搜寻框并设定第二参考点，其中所述参考搜 寻框具有预设像素范围且所述第二参考点为所述预设像素范围内的一个像 素；

在所述比对图像内选定搜寻框并设定第四参考点，其中所述搜寻框具有 与所述参考搜寻框相同的像素范围且所述第四参考点在所述搜寻框中的像 素位置对应于所述第二参考点在所述参考搜寻框中的像素位置；

利用所述搜寻框逐一搜寻所述比对图像的所有像素，并在搜寻的同时比 对所述搜寻框和所述参考搜寻框，以求得最佳匹配搜寻框；以及

计算所述最佳匹配搜寻框的第四参考点与所述第二参考点的距离以作 为所述位移量。

5.根据权利要求4所述的次像素精度的位移量侦测方法，其中比对所 述搜寻框和所述参考搜寻框的方式为将所述搜寻框的每一个像素灰阶值减 去所述参考搜寻框中相对位置像素的灰阶值，并求出所有差值绝对值的总 和。

6.根据权利要求5所述的次像素精度的位移量侦测方法，其中所述最 佳匹配搜寻框为比对所述搜寻框和所述参考搜寻框时，所得差值绝对值的总 和最小的搜寻框。

7.根据权利要求4所述的次像素精度的位移量侦测方法，其中所述第 二参考点为所述参考搜寻框左上方第一个像素；所述第四参考点为所述搜寻 框左上方第一个像素。

8.一种次像素精度的位移量侦测方法，所述方法包含下列步骤：

撷取第一阵列图像以及第二阵列图像；

在所述第二阵列图像中进行第一次搜寻比对，以求得第一最佳匹配搜寻 框相应的第三参考点；

针对所述第一阵列图像进行内插运算以形成参考图像；

针对所述第二阵列图像进行内插运算以形成比对图像，在该比对图像中 定义相应于所述第二阵列图像的第三参考点的像素，该像素为该第三参考点 经内插后或未经内插的像素；

在所述比对图像中，针对相应于所述第二阵列图像的第三参考点的像素 以及其周围的预设搜寻范围进行第二次搜寻比对；以及

计算位移量。

9.根据权利要求8所述的次像素精度的位移量侦测方法，所述方法还 包含下列步骤：将所述位移量传送至图像显示装置。