[发明专利]一种评价层状结构锂钴氧化物电化学性能的方法有效
| 申请号： | 200710123447.8 | 申请日： | 2007-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN101329286A | 公开（公告）日： | 2008-12-24 |
| 发明（设计）人： | 李永胜 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01R31/36 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王凤桐;程荣逵 |
| 地址： | 518119广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种评价层状结构锂钴氧化物电化学性能的方法，该方法包括：(A)采用X射线粉末衍射法测定层状结构锂钴氧化物晶体参数值；(B)设定层状结构锂钴氧化物晶体参数值范围；及(C)判断层状结构锂钴氧化物晶体参数值是否均在设定的参数值范围内；当上述测定的层状结构锂钴氧化物晶体参数值均在相应的设定的参数值范围内时，判定该层状结构锂钴氧化物的电化学性能满足电池需要。采用本发明提供的方法，简化了评价层状结构锂钴氧化物的电化学性能的操作步骤，并缩短了检验时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 评价 层状 结构 氧化物 电化学 性能 方法 | ||
【主权项】：
1、一种评价层状结构锂钴氧化物电化学性能的方法，其特征在于，该方法包括：(A)采用X射线粉末衍射法测定层状结构锂钴氧化物晶体参数值；(B)设定层状结构锂钴氧化物晶体参数值范围；及(C)判断层状结构锂钴氧化物晶体参数值是否均在设定的参数值范围内；当上述测定的层状结构锂钴氧化物晶体参数值均在相应的设定的参数值范围内时，判定该层状结构锂钴氧化物的电化学性能满足电池需要，其中，所述层状结构锂钴氧化物晶体参数值包括至少三个层面间距值、至少一个衍射峰相对强度值、晶胞参数c/a以及衍射峰形状特征，所述衍射峰相对强度值为除最强衍射峰以外的任意衍射峰强度与最强衍射峰强度的比值；所述层状结构锂钴氧化物的电化学性能是指电化学比容量和循环寿命。
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