[发明专利]一种评价层状结构锂钴氧化物电化学性能的方法

权利要求书

1.一种评价层状结构锂钴氧化物电化学性能的方法，其特征在于，该方法包括：

(A)采用X射线粉末衍射法测定层状结构锂钴氧化物晶体参数值；

(B)设定层状结构锂钴氧化物晶体参数值范围；及

(C)判断层状结构锂钴氧化物晶体参数值是否均在设定的参数值范围内；当上述测定的层状结构锂钴氧化物晶体参数值均在相应的设定的参数值范围内时，判定该层状结构锂钴氧化物的电化学性能满足电池需要，其中，

所述层状结构锂钴氧化物晶体参数值包括至少三个层面间距值、至少一个衍射峰相对强度值、晶胞参数c/a以及衍射峰形状特征，所述衍射峰相对强度值为除最强衍射峰以外的任意衍射峰强度与最强衍射峰强度的比值；所述层状结构锂钴氧化物的电化学性能是指电化学比容量和循环寿命；

所述层面间距值为003衍射晶面的层面间距d₀₀₃、006衍射晶面的层面间距d₀₀₆和110衍射晶面的层面间距d₁₁₀，设定的d₀₀₃大于4.6831埃、且小于或等于4.7070埃，设定的d₀₀₆大于2.3416埃、且小于或等于2.3534埃，以及设定的d₁₁₀小于1.410埃、且大于或等于1.4060埃；

所述衍射峰相对强度值为104晶面衍射峰与003晶面衍射峰的强度比I₁₀₄/I₀₀₃，设定的I₁₀₄/I₀₀₃的范围为50-80％；

设定的晶胞参数值c/a大于4.9821、且小于或等于5.0216；

设定的衍射峰形状特征为无衍射杂峰，且006和012晶面衍射峰之间以及018和110晶面衍射峰之间的分裂良好。