[发明专利]一种欠饱和岩心岩电实验参数m、n的校正方法

摘要

本发明涉及一种低孔隙度低渗透率岩心在欠饱和状态下岩电实验参数m、n的校正方法，岩心在欠饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385－1991)》标准流程进行实验及计算，求得欠饱和状态下的饱和度指数 n′值和胶结指数m′值，利用校正公式(1)计算求得岩心饱和状态下的饱和度指数n值；利用校正公式(2)计算求得岩心饱和状态下的胶结指数m值；n＝n′+(lg(R₀/R₀′))/lg(μ)(1)；m＝m′－(lg(R₀/R₀′))/lg(φ)(2)；校正后的胶结指数m值和饱和度指数n值更接近于岩心真实的胶结指数m值和饱和度指数n值，校正效果明显。

主权项

1、一种欠饱和岩心岩电实验参数m、n的校正方法，其特征在于：岩心在欠饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T 5385-1991)》标准流程进行实验及计算，求得欠饱和状态下的饱和度指数n′值和胶结指数m′值，利用校正公式(1)计算求得岩心饱和状态下的饱和度指数n值；利用校正公式(2)计算求得岩心饱和状态下的胶结指数m值；$n=n^{\prime }+\frac{\lg \left(\frac{R_0}{R_0^{\prime }}\right)}{\lg \left(\mu \right)}---\left(1\right)其中：n为n\prime 经公式(1)校正后计算求取的饱和度指数；n\prime 为欠饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T\; 5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的饱和度指数；R0为按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T\; 5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的含水饱和度为100％时的岩石电阻率；R\prime 0为按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T\; 5385-1991)》标准流程进行实验测量的5～7个不同的含水饱和度中最大的含水饱和度S″w\; 对应的岩石电阻率；\mu 为岩心欠含水饱和程度，即$ \mu =1-S_w^{\prime \prime },S″w为欠饱和状态下实验测量的最大含水饱和度，S″w记为小数；根据公式(2)对欠饱和状态下的胶结指数m\prime 进行校正：$ m=m^{\prime }-\frac{\lg \left(\frac{R_0}{R_0^{\prime }}\right)}{\lg \left(\phi \right)}---\left(2\right)其中：m为m\prime 经公式(2)校正后计算求取的胶结指数m\prime 为欠饱和状态下，按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T\; 5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的胶结指数；R0为按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T\; 5385-1991)》标准流程进行实验及计算求取的含水饱和度为100％时的岩石电阻率；R\prime 0为按照《岩石电阻率参数实验室测量及计算方法(SY/T\; 5385-1991)》标准流程进行实验测量的5～7个不同的含水饱和度中最大的含水饱和度S″w\; 对应的岩石电阻率；\phi 为岩心孔隙度。$$$