[发明专利]一种二维表面粗糙度评定中建立轮廓基准线的方法

摘要

一种二维表面粗糙度评定中建立轮廓基准线的方法，其特点在于：利用灰色滚动模型，对一个取样长度内原始轮廓的采样数据进行灰色建模，获得轮廓的模型曲线，并将评定长度内各取样长度所对应的模型曲线进行综合得到一条光滑的轮廓曲线，将此曲线作为粗糙度评定的轮廓基准线。本发明的原始轮廓数据无需服从典型分配，评定过程不损失原始数据，在整个评定长度内获得灰色基准线，无需事先去除形状误差，灰色基准线在整个评定长度内光滑自然，更接近高斯基准线。

主权项

1、一种二维表面粗糙度评定中建立轮廓基准线的方法，其特征在于步骤如下：(1)采集或从数据文件中载入表面轮廓数据，根据待评定表面的实际状况选取取样长度l和评定长度ln；(2)根据选定的取样长度l和评定长度ln，截取轮廓数据为：x(0)＝{x(0)(1)，x(0)(2)，…，x(0)(N)} (1)其中，N为评定长度内原始轮廓采样数据的个数，设一个取样长度内采样数据个数为n，以序列x(0)中从x(0)(m+1)开始的连续n项作为原始轮廓采样数据的m时刻序列，即，xm (0)＝{xm (0)(1)，xm (0)(2)，…，xm (0)(n)}＝{x(0)(m+1)，x(0)(m+2)，…，x(0)(m+n)} (2)其中，m＝0，1，2，…，N-n；(3)利用灰色滚动模型，对原始轮廓采样数据的m时刻序列xm (0)进行灰色建模，得到灰色模型值序列：${{\hat{x}}_m}^{\left(0\right)}(k+1)={{\hat{x}}_m}^{\left(1\right)}(k+1)-{{\hat{x}}_m}^{\left(1\right)}\left(k\right);$ (3)(4)由步骤(3)得到的灰色模型值序列集合，求出序列xm (0)所对应的灰色模型曲线；(5)对步骤(4)得到的所有模型曲线进行综合得到一条光滑的轮廓曲线，此曲线即为粗糙度评定的轮廓基准线。