[发明专利]一种无缝隙式键合过程GaN基发光器件及其制备方法有效
申请号: | 200710116147.7 | 申请日: | 2007-12-07 |
公开(公告)号: | CN101404312A | 公开(公告)日: | 2009-04-08 |
发明(设计)人: | 林雪娇;潘群峰;洪灵愿;陈文欣;吴志强 | 申请(专利权)人: | 厦门市三安光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 厦门原创专利事务所 | 代理人: | 徐东峰 |
地址: | 361009福建省厦门*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 一种无缝隙式键合过程GaN基发光器件及其制备方法,采用干法蚀刻去除部分GaN外延层和激光划开GaN外延层的方法,实现GaN基单元发光器件之间的绝对分隔;钝化膜包裹发光器件侧壁,保证器件与深度补偿膜的绝对电阻断;通过在相互分隔的各单元GaN基发光器件形成的凹槽中沉积深度补偿膜,沉积厚度与两侧台面齐平,形成高度一致的平面,实现GaN基发光器件与支撑部件的无缝隙式键合,降低激光剥离过程裂缝的发生率,提高成品率;且深度补偿膜是具有高反射率的金属材料,保留在发光器件的侧壁部分,可以减少发光器件侧壁的光损失,提高器件的发光效率,并有助于发光器件散热。 | ||
搜索关键词: | 一种 缝隙 式键合 过程 gan 发光 器件 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种无缝隙式键合过程GaN基发光器件,包括具有N半导体层、活性层和P半导体层的GaN基外延膜;在P半导体层下形成欧姆接触及金属反射层,其反射金属膜材料优选Ag,厚度是50~500nm;在反射金属膜下形成多层金属膜;在多层金属层膜上形成共晶焊料层;共晶焊料层与支撑部件键合;在N半导体层上形成N电极材料层;在支撑部件底部形成P电极材料层;其特征在于:GaN基发光器件侧壁包裹钝化膜,保证器件与深度补偿膜的绝对电阻断,钝化膜厚度为50~500nm;钝化膜外围和多层金属空隙中填充满高反射金属材料,厚度为0.5~2μm,实现GaN基发光器件与支撑部件的无缝隙式键合,降低激光剥离过程裂缝的发生率,提高成品率;同时发光器件侧壁的高反射率金属材料可减少器件的光损失,提高器件的发光效率并有助于发光器件散热。
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