[发明专利]自动光学检查系统的示教方法及利用它的检查方法无效
| 申请号： | 200710109945.7 | 申请日： | 2007-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN101086481A | 公开（公告）日： | 2007-12-12 |
| 发明（设计）人： | 崔铉镐 | 申请（专利权）人： | AJU高技术公司 |
| 主分类号： | G01N21/898 | 分类号： | G01N21/898;G01R31/309 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 胡建新 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明涉及对印刷电路板单元进行光学检查的自动光学检查系统的示教方法及利用它的检查方法。本发明的自动光学检查系统为了进行自动光学检查而先进行示教作业。示教作业是在光学检查之前设定检查环境信息的作业，表示设定检查对象物的检查区域或检查规格等检查所需的环境信息的各种作业。本发明的示教作业将主数据分为均匀的大小来登记多个细部检查区域。然后，登记用于识别各细部检查区域的识别信息和用于判别细部检查区域的图案及空间成分的基准数据。因此，本发明的光学检查与印刷电路板单元的大小无关地按一定的大小分割多个细部检查区域，能够以影像摄像装置的一次最大摄像范围获取影像数据，并且利用被分的细部检查区域来判别印刷电路板单元的合格与否，可以使自动光学检查系统的存储器使用最小化，提高示教及检查速度。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 光学 检查 系统 方法 利用 | ||
【主权项】：
1.一种自动光学检查系统的示教方法，对相同图案的印刷电路板单元连续进行光学检查，其特征在于，准备有关上述印刷电路板单元的主数据；将上述主数据分为多个细部检查区域来登记；及登记用于判别上述细部检查区域的图案成分的基准数据。
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