[发明专利]半导体装置及半导体装置的版图设计方法无效

专利信息
申请号: 200710102009.3 申请日: 2007-04-26
公开(公告)号: CN101064302A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 嶋田纯一;木村文浩;松村阳一;大桥贵子;岩内宣之;藤野健哉;荒木章之;桥本幸治;安井卓也;田口浩文 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/00 分类号: H01L27/00;H01L27/02;H01L23/522;H01L23/528;H01L21/82;H01L21/768;G06F17/50
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 代理人: 陆弋;宋志强
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明公开了一种具有天线保护元件的半导体装置,相比现有技术可以更适于设计制造。构成与栅极(10)连接的配线(11、12、13)的配线层(M1~M3)中,各配线被设置为不覆盖天线保护元件(17)的活性区域上方。另一方面,其上层的配线层(M4)中设置的配线(18),被设置为至少部分覆盖天线保护元件(17)的活性区域上方。
搜索关键词: 半导体 装置 版图 设计 方法
【主权项】:
1、一种半导体装置,其特征在于,该装置包括:栅极;天线保护元件,与所述栅极连接;第1配线,与所述栅极连接;第2配线,不与所述栅极连接,设置于所述第1配线的上层;其中,在构成所述第1配线的配线层中,各配线被设置为不覆盖所述天线保护元件的活性区域上方;所述第2配线被设置为至少部分覆盖所述天线保护元件的活性区域上方。
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